proyector de perfiles opacos

TECNOLOGICO DE ESTUDIOS SUPERIORES DE ECATEPEC


INGENIERIA INDUSTRIAL

METROLOGIA Y NORMALIZACION

PROYECTOR DE PERFILES OPACOS

Integrantes:
Santiago Miguel Edgar
Peláez Álvarez Edgar Uriel
Reyes López Elvis Alejandro
Solano Valdés David


8301 Matutino


OBJETIVO:
Conocer que es, para que sirve, las maneras de utilizar este instrumento de medición el proyectorde perfiles opacos conocer las piezas que tiene este instrumento y estas piezas que función tienen en el aparato conocer las escala que se ocupa, también es muy importante conocer la utilidad que se le da en la industria , identificar las piezas que es mejor medir con este instrumento o es necesario usar otro que se adapte mucho mejor a las necesidades de la persona , y al igual es muy necesarioconocer qué medidas te pueda dar este instrumento y cuáles no para ver si es mejor utilizar este instrumento u otro, así como la exactitud que te pueda proporcionar dicho instrumento
INTRODUCCION:
Con la ayuda de un proyector de perfiles es posible realizar las mediciones en 2D sobre la sombra ampliada de la zona del detalle de interés, con un factor de ampliación conocido.
La actividadcomplementaria a este proceso metrológico supone la preparación de los cortes pertinentes, que vienen especificados en el plano.
Con este fin se puede emplear sierra de disco, sierra de hilo con recubrimiento de diamantes etc.
Es muy importante la fijación de la muestra en el sistema de corte para comprender la zona de interés, el plano medio, el centro geométrico del detalle. Una vez obtenida lasección hay que pulir la superficie y limpiarla de las posibles rebabas inherentes al proceso de corte.
En piezas tipo conector con elementos alargados, en consola, elásticos o de baja rigidez que podrían sufrir deformaciones remanentes o alteraciones en la zona de interés durante el proceso de corte, realizamos probetas de estas, rigidizando su estructura en una resina liquida y con buena fluidezque después de 24h están lista para el proceso de corte.
Antes de empezar a medir hay que idear un buen sistema de fijación sobre la mesa de cristal del proyector de perfiles, para evitar posibles riesgos de movilidad.
Las dimensiones a medir suelen ser radios muy pequeños, zonas con acabado en forma de chaflán o cotas que refieren a zonas muy estrechas, donde el acceso con la punta de rubí delpalpador de una máquina tridimensional u otro medio metrológico es imposible.
Es posible la medición directa, utilizando la lectura de los regles de desplazamiento de los ejes o también la medición asistida por un software específicos, capaz de definir primitivas geométricas y encontrar la relación geométrica de interés.



DESARROLLO:
El “PPO” es un instrumento tanto decomparación (método indirecto) como de medición (método directo); en ambos casos el sistema óptico es el mismo, la diferencia estriba en los dispositivos adicionales utilizados.


“Método de Comparación”. Se proyecta la imagen de la pieza, (empleando cualquier método de iluminación) en la pantalla y se compara con un dibujo (plantilla) o escala colocado o trazado sobre la pantalla. Se utilizapara aquellas piezas en las cuales se requiere saber si quedan dentro de un rango dimensional determinado por las tolerancias de fabricación; la aceptación dependerá de que la imagen de la pieza se encuentre ubicada dentro de ese rango tolerable marcado en la plantilla. Es bastante rápido y se aplica a piezas (tornillos, radios, cuerdas, engranes, etc.). Se pueden verificar piezas de tamaño nomayor al campo útil del objetivo; aunque se pueden inspeccionar piezas mayores a dicho campo útil, pero en la pantalla solo se tendrá una imagen parcial del contorno o área de la pieza.

“Método de Medición”. La platina del “PPO” se desplaza transversal, perpendicular y verticalmente. Permite efectuar mediciones de piezas con micrómetros, calibradores o reglas patrón graduadas, aunque sean éstas...