Resumen Norma 1208

Resumen Norma NCh 1204. EOf76

Agosto 1

2011
INN - Chile

Control de Calidad – Inspección por Variables – Tablas y Procedimientos de Muestreo.

Análisis Norma Nch 1208.EOf76

Parte A
Descripción General de los Planes de Muestreo

Parte A Términos Utilizados en el Documento (Resumen) 1. Fundamentos  Característica de Calidad: Característica de un producto que es medida paradeterminar su cumplimiento con un requisito dado.  Límites de Especificación: Es el requisito dentro del cual se debe encontrar la característica de calidad, puede ser un límite superior y/o inferior.  Planes de Muestreo: Es un procedimiento que especifica el Nº de unidades de un lote que han de ser inspeccionadas y su criterio de aceptación. (Una característica de calidad por cada unidad deproducto). 2. Clasificación de Defectos  Método: Es una enumeración de los defectos de una unidad de producto, los cuales pueden ser agrupados según su importancia.  Defecto: Es una desviación de la unidad de producto de parámetro definidos.  Defectos Críticos: Defectos que ponen en peligro a los operadores de la unidad de producto y a unidades de productos finales grandes, impidiendo realizar lafunción de este último.  Defectos Mayores: sin ser críticos, son defectos que pueden producir falla en la unidad de producto y/o reduzcan su utilidad.  Defectos Menores: Solo producen desviaciones mínimas sin afectar la en gran medida la utilidad de la unidad de producto. 3. Porcentaje de Defectuosos: Se obtiene dividiendo el número de unidades defectuosas por el número de unidades total del lote,luego se multiplica por cien. Expresa el grado de no conformidad del lote. 4. Nivel de Calidad Aceptable (AQL): Valor nominal expresado en términos de porcentaje de defectuosos, correspondiente a una sola característica de calidad (Tabla A-1). 1. Especificación de AQL: Debe asignarse previamente el valor AQL (para una característica de calidad) .Puede asignarse un AQL único para ambos límites(Superior e inferior), como un AQL para cada límite. 5. Presentación del Producto 2. Lote: Conjunto de unidades de producto de la cual se extraerá una muestra la cual será inspeccionada para el cumplimiento del criterio de aceptación. 3. Formación de Lotes: Deben estar formados por unidades de un solo tipo, grado, clase, tamaño o composición. Fabricados en condiciones similares. 6. Aceptabilidad de unLote  Criterio de aceptabilidad: Será determinada por el uso de un plan de muestreo relacionado a los o el AQL establecido(s). Contempla planes de muestreo aplicadas a variabilidades conocidas y desconocidas. En el caso de las desconocidas se dispone de dos métodos alternativos, el Método de la Desviación Normal y el

Método del Intervalo. Para el caso de un solo límite de especificación existen2 criterios de aceptación, la Forma 1 y la Forma 2.  Elección de los planes de muestreo: Parte B para variabilidad desconocida usando el método de la Desviación Normal y parte C para variabilidad desconocida usando el método del intervalo. 7. Extracción de la muestra: El tamaño de la muestra es el número de unidades extraídas de un lote, esos tamaños son definidos por letras código, la cualdepende del nivel de inspección y del tamaño del lote. Hay 5 niveles de inspección I. II, III, IV y V (Tabla A-2) 8. Estimación del Promedio del Proceso y Seguridad de la Inspección (Parte B y C de la Nch 1208.EOf76) 9. Procedimiento Especial para la Aplicación de los Planes de Muestreo Mixtos de Variables y Atributos (punto A.9 de la NCh 1208.EOf76)

Análisis Norma Nch 1208.EOf76

Parte BVariabilidad Desconocida “Método de la Desviación Normal”

Parte B 1. Variabilidad Desconocida – Método de la Desviación Normal 1.1 Sección uno - Un Solo Límite de Especificación A. Constante de Aceptabilidad = k B. Criterio de Aceptabilidad / Cantidad = ((Ls - x barra)/S) o (( x barra - Li)/S)  Ls = Límite Superior  Li =Límite Inferior  x barra = Media de la Muestra  S = Estimación de la...