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Muestreo por atributos
Es el más utilizado en el muestreo de aceptación, donde es muy común emplear los términos defectivo y defecto. Donde un defecto se considera una falta de conformidad conalguna especificación y una unidad defectuosa es aquella que no cumple con las especificaciones de algún aspecto diagnosticando que puede tener uno o más defectos. 
Los defectos se pueden clasificar en:Defectos Menores: son aquellos que hacen el elemento menos útil de lo que debería ser pero no necesariamente inútil.
Defectos Mayores: Vuelven inútil el elemento
Defecto Crítico: Vuelven alelemento no solamente inútil sino peligroso.

En los planes de muestreo por atributos se extrae aleatoriamente una muestra de un lote, y cada unidad de la muestra es clasificada de acuerdo con ciertosatributos como aceptable o defectuosa. Si el número de piezas defectuosas es menor o igual que un cierto número predefinido, entonces el lote es aceptado, en caso de que sea mayor el lote es rechazado.Como ya vimos tenemos diferentes tipos de muestreo de aceptación por atributos: unico, doble y múltiple.
Muestreo único: es el tamaño muestral de n (número de unidades en las muestras) y el número deaceptación c (número de unidades defectuosas que se aceptan en una muestra).
Por ejemplo: si el tamaño del lote es N= 10000 entonces el plan de muestreo es n= 89, c=2 significa que se inspecciona unamuestra aleatoria de n= 89 unidades del lote de tamaño 10000 y que el numero de artículos defectuosos observavos es d ( número de unidades defectuosas en una muestra), donde se determina si d esmenor o igual q c el lote será aceptado pero si d es mayor a c el lote sera rechazado, ya q la característica de calidad de un atributo es distaminar si es conforme o disconforme donde la disconformidadcon respecto a las especificaciones es una unidad defectuosa.
La curva OC
Es una medida importante del muestreo único en donde la curva se grafica la probabilidad de aceptar el lote contra las...