Sistema de gestion de calidad

S ISTEMA DE G ESTIÓN DE C ALIDAD

Profesor: Cristián Carvallo

Ayudante: César Pastén

A LCANCE


DEL

SGC

Para describir los procesos, productos y las áreas de la organización endonde se aplicará el SGC



Debe basarse en la naturaleza del producto



Área de Operaciones (mayor variabilidad al producto final)

P ROCESO P RODUCCIÓN

P UNTOS

CRÍTICOS DEL PROCESOMayor rigurosidad debido a los efectos que produciría una falla en el producto o proceso Procesos críticos:


Adhesión: De sticker que perzonaliza al pendrive Corte: De bordes de stickerSeguridad de operarios

 

A NÁLISIS G LOBAL DEL P ROCESO
Gráfica de Tiempo[s]
150 UCL=148,6 125

Valor individual

100

_ X=98,1

Capacidad de proceso de Tiempo [s]
75
P rocesar datosLIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N úmero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral) 60 * 120 98,0741 54 16,8272 18,3096

LIE

LSE Dentro de General
C apacidad (dentro) delpotencial Cp 0,59 C PL 0,75 C P U 0,43 C pk 0,43 C apacidad general Pp PPL PPU P pk C pm 0,55 0,69 0,40 0,40 *

50 1 6 11 16 21 26 31 Observación 36 41 46 51

LCL=47,6

60
Desempeño observ ado P PM < LIE 0,00 P P M > LS E 111111,11 P P M Total 111111,11

75

90

105

120

135

E xp. Dentro del rendimiento P P M < LIE 11828,80 P P M > LS E 96287,12 P P M Total 108115,92

E xp.Rendimiento general P P M < LIE 18787,31 P P M > LS E 115553,34 P P M Total 134340,65

A NÁLISIS I NDIVIDUAL DEL P ROCESO
Gráfica de Tiempo p1 [s]
150 UCL=151,3 125

Valor individual

100

_X=98
P rocesar datos

Capacidad de proceso de Tiempo p1 [s]
LIE LSE Dentro de General
C apacidad (dentro) del potencial Cp 0,56 C PL 0,71 C P U 0,41 C pk 0,41 C apacidad general Pp PPL PPU P pk Cpm 0,56 0,71 0,41 0,41 *

75

50 1 3 5 7 9 11 Observación 13 15 17

LCL=44,7

LIE O bjetiv o LS E M edida de la muestra N úmero de muestra Desv .E st. (Dentro) Desv .E st. (G eneral)

60...