Tecbucas de estudio de los materiales

Reporte Parcial de Experiencia de Aprendizaje

PROFESOR: MIM. Teresa Sánchez Olvera

NOMBRE DE LOS INTEGRANTES:
David Humberto Moreno Rebolledo
Daniel Eduardo Pulido de Dios

Evaluación
Sección | Ponderación | A | B | C | D |
Objetivos | 5 | |
Introducción | 5 | |
Contenido | 65 | |
Conclusión Personal | 10 | | | | |
Bibliografía y Anexos | 5 | |
Presentación | 10 || | | |
Total | 100 | | | | |

Comentarios de la Revisión
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El reporte debe cumplir con excelente organización de las ideas, ortografía, texto justificado, encabezados diferenciados y numeración de las figuras, tablas y dibujos, entreotros aspectos.

Índice:
Objetivos------------------------2
Introducción--------------------2
Contenido -----------------------3 y 4
Conclusión personal----------4
Bibliografía---------------------4

Objetivos (5 pts)
Que el alumno sea capaz de analizar los fenómenos vistos en clases con los estudios más recientes relacionados en la Ingeniería mectronica.

Introducción (5 pts)

Lacaracterización de materiales se refiere al establecimiento de las características de un material determinado a partir del estudio de sus propiedades físicas, químicas, estructurales, etc.

Existen para ello distintas técnicas de caracterización, de acuerdo al interés que despierte dicho material. Una vez conocidas las características del material puede establecerse la naturaleza del mismo, asícomo sus posibles aplicaciones. Un ejemplo de ello es la caracterización de materiales semiconductores, lo cual es vital para establecer el uso posterior que puede dársele a los mismos. Otra aplicación muy útil es en el análisis de cargas térmicas, que forma parte del proceso de diseño de instalaciones de Aire Acondicionado, en el cual se toman en cuenta las propiedades térmicas de los materiales,tales como: Coeficiente de conductividad (Índice K), Transmitancia (Valor U),Resistencia e Inercia térmicas.

Las técnicas de caracterización de los materiales tales como la microscopía electrónica de barrido (SEM)., la microscopia óptica, la difracción de rayos X (XRD), la microscopia de transmisión, La microscopia de efecto túnel y la microscopia de fuerzas atómicas y algunas adsorciones. Sontécnicas e instrumentos valiosos ampliamente disponibles para el análisis de estructuras y la composición de los materiales y artificiales en muchas disciplinas. Aunque el problema individual que hay que resolver pueda ser diferente, los principios fundamentales de la técnica son los mismos en la ciencia de los materiales, la mineralogía, la geología, la física, la química y aun en la biología ymedicina.

De entre estas técnicas hemos elegido dos en particular que son la microscopía electrónica de barrido y tanto la adsorción de algunas sustancias como la adsorción a alta presión.

Contenido (65 pts)
Técnica 1:
Microscopia electrónica de barrido ( SEM)
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento que permite la observación y caracterización superficial demateriales inorgánicos y orgánicos, entregando información morfológica del material analizado. A partir de él se producen distintos tipos de señal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus características. Con él se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de los distintos materiales con los que trabajan los investigadores de lacomunidad científica y las empresas privadas, además del procesamiento y análisis de las imágenes obtenidas. Las principales utilidades del SEM son la alta resolución (~100 Å), la gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes y la sencilla preparación de las muestras.
El microscopio electrónico de barrido puede estar equipado con diversos detectores, entre los que se...