Tecnicas De Analisis
Páginas: 6 (1396 palabras)
Publicado: 26 de enero de 2013
de superficies
UNIVERSIDAD AUTONOMA de COAHUILA
FACULTAD DE CIENCIAS QUÍMICAS
ANALISIS INSTRUMENTAL II
CUESTIONARIO
“TÉCNICAS DE ANALISIS DE SUPERFICIE “
TECNICAS DE ANALISIS DE SUPERFICIE
CUESTIONARIO:
1.- Fundamento del ángulo de contacto
R= Esta técnica de análisis de superficie se basa en la medición del ángulo de contacto que puede ser obtenido midiendoel ángulo formado entre el sólido y la tangente a la superficie de la gota.
2.- Fundamento del XPS
R= Para producir los rayos X de baja energía, una fuente de electrones es dirigida a un objetivo de Al, donde los rayos X se forman. Estos rayos X, poseen una energía de 1486 eV. El objetivo (metal) es dirigido a un cristal de cuarzo, el cual debido al ángulo de Bragg monocromatiza los rayos X ylos enfoca en un punto.
3.- Fundamento del AFM
R= Una punta delgada y con terminación extremadamente fina de apenas 5 nm, barre una muestra, y la detección de minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre la punta y la superficie de la muestra se registran, observan y estudian.
4.- Fundamento del SEM
R= La técnica consiste en hacer incidir en la muestra un haz deelectrones.
5.- Fundamento del SIMS
R= El bombardeo de una superficie de una muestra con un rayo de iones primarios seguido por la espectroscopia de masas de los iones secundarios emitidos.
6.- Partes de un goniómetro
R= Fuente de luz, soporte para muestra, lentes y captura de imagen
7.- Explique que es sputtering.
R= Es un proceso que significa expulsión. Un ion primario produce una colisiónde cascada entre los átomos de la superficie, y entre0.1 y 10 átomos son generalmente expulsados. El proceso de la expulsión depende de la naturaleza del analito.
8.-Mencione los tres tipos de detectores utilizados en el SEM.
R= Electrones secundarios, retrodispersados y rayos X.
9.- Diferencia entre electrón retrodispersados y secundario.
R= Los electrones secundarios nos dan una imagentridimensional mientras que los retrodispersados nos dan la diferencia en la composición química por diferencias de contraste (emergen de la muestra con una energía superior a 50 Ev).
10.-3 Desventajas del SEM
R= Menor capacidad de aumento ( solo puede 100 mil veces), menor resolución, solo permite ver el exterior de la muestra.
11.- 5 Aplicaciones del SEM
R= Observar y fotografiar zonas dela muestra, desde 10 aumentos a 200 mil con una resolución espacial de 5 nm; Medida de longitudes, siendo la menor longitud medible 14 nm; Distinción mediante diferentes tonos de grisees, de zonas con distinto número atómico medio; Análisis cuantitativo y cualitativo de volúmenes de muestra en un rango de una a varios millones de micras cúbicas y mapas de distribución de elementos químicos, enlos que se puede observar simultáneamente la distribución de hasta 8 elementos, asignando un color diferente a cada uno.
12.- Resolución máxima y mínima.
R= 14nm
13.- Esquema del SEM
14.- Muestras que puede analizar el SEM
R= Confit5eria y condimentos, productos dietéticos, platos preparados y conservas, textiles, juguetes, preparados químicos yconservados, joyería, etc.
15.- Esquema del AFM
16.- Resolución que tiene este equipo
R= 1nm
17.- 3 Ventajas y desventajas
R= Ventajas: reduce la tensión superficial y las fuerzas electrostáticas, se obtienen imágenes de muestras de aleación en fluidos, eliminación de las fuerzas capilares.
Desventajas: solamente se alivian parcialmente las fuerzas laterales, no espractico sumergir muchas superficies.
18.- 5 Aplicaciones del AFM
R= Resolución de imágenes atómicas y moleculares, mediciones de fuerza-distancia, caracterización de superficies duras, algunas superficies biológicas.
19.-3 tipos de modos usados para analizar una muestra,
R= Modo contacto, modo no contacto y modo tapping
20.- Que datos se pueden obtener con el AFM
R= Morfología,...
UNIVERSIDAD AUTONOMA de COAHUILA
FACULTAD DE CIENCIAS QUÍMICAS
ANALISIS INSTRUMENTAL II
CUESTIONARIO
“TÉCNICAS DE ANALISIS DE SUPERFICIE “
TECNICAS DE ANALISIS DE SUPERFICIE
CUESTIONARIO:
1.- Fundamento del ángulo de contacto
R= Esta técnica de análisis de superficie se basa en la medición del ángulo de contacto que puede ser obtenido midiendoel ángulo formado entre el sólido y la tangente a la superficie de la gota.
2.- Fundamento del XPS
R= Para producir los rayos X de baja energía, una fuente de electrones es dirigida a un objetivo de Al, donde los rayos X se forman. Estos rayos X, poseen una energía de 1486 eV. El objetivo (metal) es dirigido a un cristal de cuarzo, el cual debido al ángulo de Bragg monocromatiza los rayos X ylos enfoca en un punto.
3.- Fundamento del AFM
R= Una punta delgada y con terminación extremadamente fina de apenas 5 nm, barre una muestra, y la detección de minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre la punta y la superficie de la muestra se registran, observan y estudian.
4.- Fundamento del SEM
R= La técnica consiste en hacer incidir en la muestra un haz deelectrones.
5.- Fundamento del SIMS
R= El bombardeo de una superficie de una muestra con un rayo de iones primarios seguido por la espectroscopia de masas de los iones secundarios emitidos.
6.- Partes de un goniómetro
R= Fuente de luz, soporte para muestra, lentes y captura de imagen
7.- Explique que es sputtering.
R= Es un proceso que significa expulsión. Un ion primario produce una colisiónde cascada entre los átomos de la superficie, y entre0.1 y 10 átomos son generalmente expulsados. El proceso de la expulsión depende de la naturaleza del analito.
8.-Mencione los tres tipos de detectores utilizados en el SEM.
R= Electrones secundarios, retrodispersados y rayos X.
9.- Diferencia entre electrón retrodispersados y secundario.
R= Los electrones secundarios nos dan una imagentridimensional mientras que los retrodispersados nos dan la diferencia en la composición química por diferencias de contraste (emergen de la muestra con una energía superior a 50 Ev).
10.-3 Desventajas del SEM
R= Menor capacidad de aumento ( solo puede 100 mil veces), menor resolución, solo permite ver el exterior de la muestra.
11.- 5 Aplicaciones del SEM
R= Observar y fotografiar zonas dela muestra, desde 10 aumentos a 200 mil con una resolución espacial de 5 nm; Medida de longitudes, siendo la menor longitud medible 14 nm; Distinción mediante diferentes tonos de grisees, de zonas con distinto número atómico medio; Análisis cuantitativo y cualitativo de volúmenes de muestra en un rango de una a varios millones de micras cúbicas y mapas de distribución de elementos químicos, enlos que se puede observar simultáneamente la distribución de hasta 8 elementos, asignando un color diferente a cada uno.
12.- Resolución máxima y mínima.
R= 14nm
13.- Esquema del SEM
14.- Muestras que puede analizar el SEM
R= Confit5eria y condimentos, productos dietéticos, platos preparados y conservas, textiles, juguetes, preparados químicos yconservados, joyería, etc.
15.- Esquema del AFM
16.- Resolución que tiene este equipo
R= 1nm
17.- 3 Ventajas y desventajas
R= Ventajas: reduce la tensión superficial y las fuerzas electrostáticas, se obtienen imágenes de muestras de aleación en fluidos, eliminación de las fuerzas capilares.
Desventajas: solamente se alivian parcialmente las fuerzas laterales, no espractico sumergir muchas superficies.
18.- 5 Aplicaciones del AFM
R= Resolución de imágenes atómicas y moleculares, mediciones de fuerza-distancia, caracterización de superficies duras, algunas superficies biológicas.
19.-3 tipos de modos usados para analizar una muestra,
R= Modo contacto, modo no contacto y modo tapping
20.- Que datos se pueden obtener con el AFM
R= Morfología,...
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