Tecnicas determinativas

UNIVERSIDAD NACIONAL AUTONOMA DE MEXICO
FACULTAD DE INGENIERIA
DIVISION DE CIENCIAS DE LA TIERRA

MINERALOGIA OPTICA Y TECNICAS DETERMINATIVAS

ALUMNA: GONZALEZ ESCOBAR ROCIO

PROF: ING.JAVIER MEDINA ESCUTIA

GRUPO:1

INVESTIGACION SOBRE TECNICAS DETERMINATIVAS
SEMESTRE 2009-2

TECNICAS DETERMNATIVAS
*Microscopio Electrónico de Barrido*
Los primeros instrumentos desarrolladospara este propósito, fueron microscópios ópticos, que van desde una simple lupa, hasta un microscopio compuesto. Sin embargo, aún en el mejor instrumento óptico, la resolución está limitada a la longitud de onda de la luz que se utilice, que en este caso es la luz violeta, cuya longitud de onda es de aproximadamente 400 nanómetros; por lo tanto, los detalles más pequeños que pueden resolverse,deberán estar separados no menos de esta longitud. En términos de amplificación, esto quiere decir que no podemos amplificar más de 1,000 veces.
Una salida inmediata a esta limitante de resolución, es utilizar alguna radiación de longitud de onda más corta que la de la luz violeta. Los candidatos inmediatos son los rayos X, que se caracterizan por una longitud de onda del orden de 0.15 nanómetros;desafortunadamente éstos tienen la gran desventaja de ser absorbidos rápidamente por lentes de vidrio y de no poder ser desviados por lentes magnéticas (Además de las precauciones que debería tener el operador).
Otra posibilidad es aprovechar el comportamiento ondulatorio de los electrones acelerados por alguna diferencia de potencial. Sea el caso, por ejemplo, de electrones acelerados en un campo de100,000 voltios que presentan comportamiento ondulatorio con una longitud de onda de 0.0037 nm (3.7 picómetros), lo que en principio permitiría tener un aparato que resolviera detalles del mismo orden, lo cual es más de lo que se necesita para resolver detalles atómicos, puesto que los átomos en un sólido están separados en un orden de 0.2 nm. Sin embargo, en la práctica, detalles inherentes a latécnica de observación, o defectos en el maquinado de las piezas polares que producen aberraciones.
El Microscopio Electrónico de Barrido permite obtener imágenes de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos.
La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie. Los electrones secundarios seasocian a una señal de TV.
CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS
Microscopio Electrónico
de Barrido. * Imágenes digitales hasta 2048 x 2048 pixel. * Resolución de 25 nm a 1 kV y de 3,5 nm a 30 kV. * Lentes magnéticas y bomba turbomolecular refrigeradas por agua. * Detector de centelleo para electrones secundarios, de Si para electrones dispersados y de Si(Li) para rayos X. | Sistema deMicroanálisis
de Rayos X. * Detector de Si(Li) refrigerado con NL para rayos X. * Espectros de energía de rayos X con una resolución de 128 eV. * Detección cualitativa de elementos. * Imagen de los elementos en la muestra. |
| APLICACIONESHORMIGONES Y ARIDOS * Mineralogía de cementos: clínker, alitas, etc... * Mineralogía de áridos: granito, calizas, etc... * Crecimientoscristalinos, texturas, fisuraciones, porosidades, fragilidad, etc... * Fases reactivas, productos expansivos. * Interferencia árido pasta, índice de huecos, etc... * Composición microquímica, alteraciones, etc... * Cuantificación de parámetros de caracterización. |

METALES Y ORGANICOS * Análisis morfológico y fractográfico. * Análisis de inclusiones. * Corrosión de superficies yoxidaciones. * Estudio, análisis y evaluación de fases. * Cartografía de elementos químicos. * Ataques superficiales por alteración. * Espesores y distribución de capas. | |

Funcionamiento
En el microscopio electrónico de barrido es necesario acelerar los electrones en un campo eléctrico, para aprovechar de esta manera su comportamiento ondulatorio, lo cual se lleva a cabo en...