Tecnicas instrumentales

Difracción de Rayos X:
Los rayos X son radiaciones electromagnéticas, como lo es la luz visible y lo único que los distingue de las demás radiaciones es su longitud de onda, del orden de 10-10 metros, que equivale a un Ángstrom.
Se puede obtener información sobre la estructura cristalina de una material utilizando difracción de rayos X. Cuando un haz monocromático (de una sola longitud deonda) del mismo orden de magnitud que el espaciamiento atómico del material lo golpea, los rayos X se dispersan en todas direcciones. La mayor parte de la radiación dispersa por un átomo anula la dispersada por otros átomos. Sin embargo, los rayos X que golpean ciertos planos cristalográficos en ángulos específicos se ven reforzados en vez de eliminados. Este fenómeno se conoce como difracción.
Losrayos X han sido difractados o el haz ha sido reforzado, cuando las condiciones satisfacen la Ley de Bragg:

Dónde:
n es un número entero,
λ es la longitud de onda de los rayos X,
d es la distancia entre los planos de la red cristalina y,
θ es el ángulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersión.
Ley de Bragg:
Cuando un haz de rayos X choca contra la superficie de uncristal formando un ángulo θ, una porción del haz es dispersada por la capa de átomos de la superficie. La porción no dispersada del haz y la que queda pasa a la tercera capa. El efecto acumulativo de esta dispersión producida por los centros regularmente espaciados del cristal es la difracción del haz, de la misma forma que la radiación visible se difracta en una red de reflexión. Los requisitos parala difracción de rayos X son: a) que el espacio entre las capas de átomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiación y b) que los centros de dispersión estén distribuidos en el espacio de una manera muy regular.
La difracción de rayos en una muestra policristalina permite abordar la identificación de fases cristalinas (puesto que todos los sólidos cristalinos poseen sudifractograma característico) tanto en su aspecto cualitativo como cuantitativo. Los estudios de polimorfismo, transiciones de fase, y soluciones sólidas, medida del tamaño de partícula, determinación de diagramas de fase, etc., se realizan habitualmente por difracción de rayos X.
La difracción de rayos X es el único método que permite, tras un procedimiento generalmente largo y complicado,determinar de modo exacto la estructura molecular de cualquier producto, ya sea un fármaco, un compuesto inorgánico, un mineral, una proteína o incluso un virus.
Espectrometría Raman
La espectrometría Raman es una técnica espectroscópica utilizada en física de la materia condensada y también en química para el estudio de los modos vibracionales, rotacionales y otros de baja frecuencia en unsistema. Se basa en la dispersión inelástica, o dispersión Raman, de la luz monocromática, que por lo general procede de un láser en el rango visible, infrarrojo cercano, o ultravioleta cercano. La luz láser interactúa con fonones u otras excitaciones en el sistema, por lo que la energía de los fotones láser se desplaza hacia arriba o hacia abajo.
Normalmente, la muestra se ilumina con un rayo láser.La luz del punto iluminado se recoge con una lente y se envía a través de un monocromador. Las longitudes de onda cercanas a la línea láser, debidas a la dispersión elástica de Rayleigh, son filtradas, mientras que el resto de la luz recogida se dispersa en un detector.
La dispersión Raman espontánea es generalmente muy débil, y como resultado la principal dificultad de la espectrometría Raman esseparar la luz débil dispersada inelásticamente de la luz intensa láser por dispersión de Rayleigh. Históricamente, los espectrómetros Raman utilizaban rejillas de difracción holográfica y múltiples etapas de dispersión para lograr un alto grado de rechazo láser. En el pasado, los detectores de elección para las configuraciones de dispersión Raman eran los fotomultiplicadores, lo que daba lugar...