tecnico superior en quimica

Rayos X








FACILITADOR: PARTICIPANTES:
Gutierrez Lubin Chavarri Sergio
Gómez Yeiralym
Jiménez Yurnarki
Montaña Ricmary
Rivero Eliram


21 de Marzo del 2013
RESUMEN


Los rayos X fueron descubiertos en 1895, son un tipo de radiación electromagnética, puede describirse en forma de ondas o de partículasde energía. En su imagen corpuscular, los rayos X se transmiten mediante cuantos de energía denominados fotones. En el vacío, todos los fotones viajan a la velocidad de la luz en línea recta y constituyen el haz de rayos X. La espectroscopia de rayos X se basa en la medida de la emisión, absorción, dispersión, fluorescencia y difracción de la radiación electromagnética. En la región de los rayos Xhay suficiente energía para producir cambios en el estado electrónico. Esta es una técnica no destructiva, es importante en caracterización de materiales cristalinos y se utiliza para identificar las fases presentes en la muestra, desde materia prima de partida hasta un producto final. Entre los detectores usados se encuentran detectores de recuento de fotones, detector de gas, contador decentelleo y detector de semiconductor. La muestra problema no tiene un recipiente determinado, la radiación X afecta a los electrones de las capas más internas del átomo del analito, atravesando totalmente la muestra por esto no importa si el átomo del analito esta atómico o en molécula, líquido, sólido o gaseoso, los únicos limites los impone el instrumento y la técnica usada (absorción o difracción).Las interferencias pueden afectar a la señal del analito. Los rayos X son especialmente útiles en la detección de enfermedades del esqueleto y en los tejidos blandos. La difracción de rayos X es útil en el campo de la cristalografía, se utiliza para explorar la estructura de la materia cristalina por ser su longitud de onda similar a la distancia entre los átomos de la red cristalina. Tambiénpuede utilizarse para determinar defectos en componentes técnicos, como tuberías, turbinas, motores, paredes, y en general en casi cualquier elemento estructural.



INDICE

1.Rayos X 5
1.1. Emisión de Rayos X 7
1.2. Difracción de Rayos X 8
2.Instrumentación 8
2.1. Fuentes 9
2.2. Monocromador 10
3.Detectores 12
3.1. De recuento de fotones 12
3.2. Detector de gas 123.3. Contador de centelleo 13
3.4. Detector de semiconductor 14
4.Tratamiento De La Muestra 14
5. Espectros 15
5.1.Espectro Continuo

5.2. Espectro Caracteristico
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6. La Ley De Moseley
17
7. Ley De Bragg
17
8. Aplicaciones 18
9. Resumen del Articulo 19
10. Pertinencia con el Plan Nacional Simón Bolívar 20



INDICE DE FIGURAS


Figura 1:Representación esquemática del difractómetro de rayos X automático para cristales.
7
Figura 2: Componentes de un equipo de rayos X.
9
Figura 3: Tubo de rayos X. 10
Figura4: Difracción de rayos X por los planos de un cristal. 11
Figura 5: Sección transversal de un detector de gas. 13
Figura 6: Detector de contador de centelleo 14
Figura 7: Espectro continuo emitido por una fuente de Rayos Xde Mo a diversos potenciales (U0). 16
Figura 8: Diagrama del Difractómetro de rayos X, fundamentado en la difracción según Bragg. 18

















1. RAYOS X

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética descubierta en 1895. Puede describirse en forma de ondas o en forma de partículas de energía. En su imagen corpuscular, los rayos X se transmiten mediante cuantosde energía denominados fotones. En el vacío, todos los fotones viajan a la velocidad de la luz c en línea recta y constituyen el haz de rayos X. En su imagen ondulatoria, los rayos X se propagan en forma de ondas con máximos y mínimos en su distribución de campo electromagnético siempre perpendiculares a la dirección de propagación.

La espectroscopia de Rayos X se basa en la medida de la...