tecnológico simón bolivar

Instituto tecnológico Superior Simon Bolívar




Trabajo de Investigación de Metrología





Integrantes:


Isaac Macías Loja


Peter Andrade Suarez


Pedro Álvarez Torres



Profesora:


Ing. Karol Pazmiño



Año Lectivo:


2014-2015
















Indice

Página


1.OBJETO.......................................................1

2. ALCANCE............................................................................................. 2

3. DEFINICIONES............................................... 3

4. GENERALIDADES.............................................4

5. DESCRIPCIÓN..................................................................................... 5

5.1. Equipos ymateriales............................... 5.1
5.2. Operaciones previas.....................5.2
5.3. Proceso de calibración...................................5.3
5.4. Toma y tratamiento de datos..... .5.4

6. RESULTADOS............................................. 6

6.1. Cálculo de incertidumbres...................................................6.1
6.2. Interpretación deresultados................................................6.2

7. REFERENCIAS................................................... 7

8. ANEXOS............................................................................................. 8

8.1. Ejemplo numérico de aplicación
.





1. OBJETO

El presente procedimiento tiene por objeto mostrar un método posible parala calibración de proyectores de perfiles, codificados como D-
10.03 (proyectores de perfiles) según la Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional (ref. [5]).


2. ALCANCE

El presente procedimiento es de aplicación a proyectores de perfiles, tanto de eje vertical como de eje horizontal, que poseen iluminación episcópica (por luz transmitida), diascópica (por luz reflejada) oambas.

La medición de longitudes directamente sobre la pantalla de observación del proyector, mediante la utilización de plantillas, reglas, etc., requiere una calibración específica, con el fin de caracterizar la amplificación real, no contemplada en el presente procedimiento.


3. DEFINICIONES

3.1. Proyector de perfiles:




Equipo medidor de dimensiones y formas,por amplificación óptica, que permite la realización de medidas directas o con desplazamiento, sobre una pantalla de proyección. Los principales componentes de un proyector de perfiles son: la fuente de luz, el sistema óptico, la mesa soporte de las piezas y la pantalla de observación.








3.2. Iluminación episcópica (proyección por luz transmitida):





El haz luminoso setransmite a través de la pieza, proyectando el contorno o silueta situada en el plano focal en la pantalla de observación.







3.3. Iluminación diascópica (proyección por luz reflejada):




El haz luminoso incide sobre la superficie de la pieza, reflejando su imagen iluminada en la pantalla. La calidad de la reflexión depende principalmente de la calidad superficial de la pieza.3.4. Proyector de perfiles de eje vertical:


En este tipo de proyectores el haz luminoso incide verticalmente sobre el elemento a medir. La pieza suele situarse sobre mesas de cristal, a través de las cuales se transmite el haz luminoso. Se trata de instrumentos con campos de medida pequeños (de hasta 0,2 ó
0,3 metros como máximo en cada eje de medida), adecuados para piezas pequeñas yligeras, siendo en cambio los de mayor exactitud. En ellos los dos ejes longitudinales de medida se denominan X e Y, utilizándose el eje Z para enfoque.


3.5. Proyector de perfiles de eje horizontal:



En este tipo de proyectores el haz luminoso incide horizontalmente sobre el elemento a medir. Estos proyectores poseen campos de medida mayores (de hasta 0,5 metros), adecuados para...