Unidad_4_Tema_TEM

Fundamentos de Caracterización de Materiales
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

Imagen tomada del enlace:
http://es.wikipedia.org/wiki/Imagen:SimpleSEMandTEM.jpg

Fco. Javier GonzálezBenito

Fundamentos de Caracterización de Materiales
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

1.- Microscopía electrónica de
transmisión (TEM)
-Se
hace
uso
del
carácter
ondulatorio de loselectrones con la
posibilidad de refractarlos

Columna a vacío

-La muestra debe ser muy fina. Poco
poder de penetración de los e-.
-La imagen se forma por medio de
dos o más lentes

 1 .5 

V 

1/ 2

λ=

Figura tomada de:
-ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA,
T. y SERRATOSA, J.M.: "Introducción a la
ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993.

Resolución: 2 – 5 Å
Esquema de un microscopioelectrónico
Fco. Javier González Benito

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Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

1.1.- Información que suministra
-Imágenes directas de la estructura
desecciones muy delgadas de
material (100 – 200 Å)
-Diagramas
de
difracción
orientados de electrones

Figura tomada de:
-ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA,
T. y SERRATOSA, J.M.: "Introducción a laciencia de materiales". C.S.I.C., 1993.

Imágenes de alta resolución de un
óxido mixto de uranio y lantano con sus
correspondientes
diagramas
de
difracción
Fco. Javier González Benito

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Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

1.2.- Muestras y porta-muestras
-Debe ser transparente a los electrones (espesor entre 10 y
500 nm)
-Muestra sobre rejilla oanillo circular perpendicular al eje
óptico del microscopio y cerca del foco de la lente objetivo
-Las partículas pequeñas, microorganismos, virus y
macromoléculas necesitan una película que actúe desoporte.
-La muestra puede desplazarse lateralmente ± 1mm
-La muestra se puede girar 360º
-La muestra se puede inclinar ± 60º
-Algunos porta-muestras se pueden calentar
Fco. Javier González Benito...