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Microscopio de contraste de fases microscopio estereoscópico
Microscopio electrónico de barrido microscopio electrónico de transmision

Microscopio defuerza atómica microscopio de fluorecencia


Microscopio de fuerza atomica  El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento mecano-óptico capaz dedetectar fuerzas del orden de los nanonewton.  Al analizar una muestra, es capaz de registrar continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal.  La sondava acoplada a un listón microscópico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de sólo unos 200 µm de longitud (cantilever, ver figura).   La fuerza atómica se puede detectar cuando la punta está muypróxima a la superficie de la muestra.   Es posible entonces  registrar la pequeña flexión del listón mediante un haz laser reflejado en su parte posterior.  Un sistema auxiliar piezoeléctrico desplazala muestra tridimensionalmente, mientras que la punta recorre ordenadamente la superficie. Todos los movimientos son controlados por una computadora.  Diferentes formas o modos de funcionamiento MODODE CONTACTO : Este modo de barrido requiere retroalimentación, de manera que la repulsión entre el listón y la muestra permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentación se mide la altura.Este es el modo más común de barrido. | |
MODO DE ALTURA CONSTANTE : En este modo de barrido la altura del cantilever se mantiene constante durante el barrido. Se mide la flexión del listón. Al nohaber retroalimentación, es posible barrer a alta velocidad. | |
MODO SIN CONTACTO : Este modo de barrido requiere retroalimentación, y la atracción entre la muestra y el listón (que vibra cercadel punto de resonancia) permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentación se mide la altura. La resolución es un poco menor debido a la distancia entre el listón  y la muestra. | |...
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