Han

Difracción de rayos x (XRD)

Este método es utilizado para la identificación de la estructura atómica y molecular de un cristal, en la que los átomos cristalinos causan un haz incidente en el quelos rayos x se difractan en direcciones específicas. Mediante la medición de los ángulos e intensidades de estos haces difractados, se una imagen tridimensional de la densidad de electrones dentrodel cristal. , las posiciones medias de los átomos en el cristal se pueden determinar, así como sus enlaces químicos, de su Entropía y otra información.
-En la caracterización de películas delgadasde SnO2 , se utilizo el método de (XRD) para mostrar la fase cristalina caserita y conocer la orientación cristalográfica de la misma que en este caso particular fue de (110) y (211) con un tamañopromedio del cristal de 20 nm además de que se obtuvo el espesor de dicha película delgada estos datos fueron proporcionados gracias a la difracción de rayos – x.
REFERENCIAS:
Superf.vacío vol.26 no.2 México jun. 2013
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Espectroscopia de fotoelectrones de rayos–x (XPS)
 Es unatécnica espectroscópica cuantitativa sensible de la superficie que mide la composición elemental en las partes, fórmula empírica, estado químico y estado electrónico de los elementos que existen. XPS...