Aplicaciones de la espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
Páginas: 2 (379 palabras)
Publicado: 3 de septiembre de 2014
6.25.6 Aplicaciones de la espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
Una de las aplicaciones fundamentales del XPS es el estudio de las superficies. Este estudio permite detectar los elementospresentes en la superficie, cuantificarlos y en casos particulares con los estudios adecuados se puede obtener los estados de oxidación y entornos de coordinación de los elementos presentes en esassuperficies. Dentro del estudio de superficies, la caracterización de los catalizadores es de gran importancia. Por ej., en la figura X se representan los espectros XPS del Ni metal y del NiO.
Figura 77. Diagrama esquemático de un espectrómetro XPS.
Es muy importante en los procesos de hidrogenación de aceites insaturados para obtener las grasas (p. ej. Margarinas) que se deposite níquelmetal sobre el soporte y que no se oxide a NiO que es inactivo. Se puede observar un desplazamiento de las energías de ligadura que permite identificar la especie superficial como Ni metal o comocationes Ni2+ en el óxido. Esta técnica permite diagnosticar problemas puesto que el proceso de hidrogenación puede ir mal porque no se esté impregnando el soporte correctamente con Ni.
Figura 78. XPS(nivel 2p) de Ni y NiO.
Se pueden estudiar muchos otros tipos de materiales, p. ej., electrónicos. La miniaturización de los componentes electrónicos es cada vez mayor y actualmente se crecen, enalgunos casos, capas de dimensiones nanométricas que deben ser caracterizadas convenientemente.
Figura 79. Perfil de composición atómica de un contacto Au/Cr/Si en función del tiempo de bombardeode Ar+.
En la fabricación de componentes electrónicos hay que metalizar para mejorar los contactos pero esto no siempre es posible. Metalizar con Au una superficie de Si presenta problemas deinterdifusión. Por ello se metaliza con capas Au/Cr sobre Si que dan mejores prestaciones.
El perfil de composiciones que se obtiene por espectroscopia XPS de la muestra bombardeada con Ar+ se da en...
Una de las aplicaciones fundamentales del XPS es el estudio de las superficies. Este estudio permite detectar los elementospresentes en la superficie, cuantificarlos y en casos particulares con los estudios adecuados se puede obtener los estados de oxidación y entornos de coordinación de los elementos presentes en esassuperficies. Dentro del estudio de superficies, la caracterización de los catalizadores es de gran importancia. Por ej., en la figura X se representan los espectros XPS del Ni metal y del NiO.
Figura 77. Diagrama esquemático de un espectrómetro XPS.
Es muy importante en los procesos de hidrogenación de aceites insaturados para obtener las grasas (p. ej. Margarinas) que se deposite níquelmetal sobre el soporte y que no se oxide a NiO que es inactivo. Se puede observar un desplazamiento de las energías de ligadura que permite identificar la especie superficial como Ni metal o comocationes Ni2+ en el óxido. Esta técnica permite diagnosticar problemas puesto que el proceso de hidrogenación puede ir mal porque no se esté impregnando el soporte correctamente con Ni.
Figura 78. XPS(nivel 2p) de Ni y NiO.
Se pueden estudiar muchos otros tipos de materiales, p. ej., electrónicos. La miniaturización de los componentes electrónicos es cada vez mayor y actualmente se crecen, enalgunos casos, capas de dimensiones nanométricas que deben ser caracterizadas convenientemente.
Figura 79. Perfil de composición atómica de un contacto Au/Cr/Si en función del tiempo de bombardeode Ar+.
En la fabricación de componentes electrónicos hay que metalizar para mejorar los contactos pero esto no siempre es posible. Metalizar con Au una superficie de Si presenta problemas deinterdifusión. Por ello se metaliza con capas Au/Cr sobre Si que dan mejores prestaciones.
El perfil de composiciones que se obtiene por espectroscopia XPS de la muestra bombardeada con Ar+ se da en...
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