Barras

Solo disponible en BuenasTareas
  • Páginas : 7 (1582 palabras )
  • Descarga(s) : 0
  • Publicado : 22 de diciembre de 2010
Leer documento completo
Vista previa del texto
|Materialen teknologia ikasgaiko praktikak |
|TM3: FRAKTOGRAFIA |
|4. Injinerutza Industriala |

1.SARRERA…………………………………..……..3

2. HELBURUAK……………………………………..3

3. AURRE PRESTAKUNTZA…………………….3

1. Mikroskopio optikoak…………………4

2. Mikroskopio elektronikoak………..5

1. TEM…………………………………..5

2. SEM………………………………….6

4. ERANTZUNAK……………………..…………..6

5. ERANTZUNEN DISKUSIOA………..……..7

6. ONDORIOAK……………………………………12

7. BIBLIOGRAFIA………………………………….13

1. SARRERA

Materialen teknologia izeneko ikasgaihonetako hirugarren praktikan, Fraktografia aztertuko da. Bertan hainbat instrumenturen bidez, lan baldintza ezberdinetan sor daitezken haustura motak ikusiko dira.
Charpy saiakuntza baten bidez haustura emandako probeta ezberdinak hartuko dira, eta berauen gainazal haustura aztertuko da, eman izan den haustura mekanismoa definituz. Gainazal hau aztertzeko, ondoren azalduko den SEM motakomikroskopio elektronikoa erabiliko da.

2. HELBURUAK

Praktika honekin lortu nahi diren helburuak, ondorengo puntuetan zehazten dira:

• Gaur egun, helburu hauetarako bideratuta dauden merkatuko mikroskopioak ezagutzea.
• SEM mikroskopio elektronikoaren erabilera ikusi eta ulertzea.
• Material eta lan baldintza ezberdinetako probetetan eman izan ahal diren haustura motakdefinitzea mikroskopioko irudi batetik abiatuta.
• Probeta berdin baten barnean, haustura gainazalaren gune ezberdinetan, haustura motak ikustea.

3. AURRE PRESTAKUNTZA

Lehenik eta behin material ezberdinetako probetak hartuko dira, eta lan baldintza ezberdinetan ( tenperatura aldatuz …) Charpy saiakuntza bat burutuko zaie.
Gainazal haustura ezberdina duten probeta hauen analisiaegitea izango da hurrengo pausoa. Horretarako, mikroskopio baten beharra dago.
Gaur egun, merkatuan era ezberdinetako mikroskopioak daude, eta arlo ezberdinen arabera, bata edo bestea erabiliko da.
Bi mikroskopio familia daude, alde batetik mikroskopio optikoak, eta bestetik mikroskopio elektronikoak. Azken hauen barnean, bi motatakoak bereiz daitezke:
[pic]
3.1. Mikroskopiooptikoak

Alde batetik, mikroskopio optikoak bereiz daitezke. Hauek argi izpia, eta materialen propietate optikoez baliatuz gerturatzen dute aztertu nahi den laginaren azalera. Mundu mailan, gehienbat erabiltzen direnak dira, bere manipulazio sinpleagatik eta prezio baxuagatik.
Mikroskopio hauek x1000 ingururainoko aumentoak lor ditzakete, eta aztertu beharreko lagina magnitude horieninguruan badabil, aukera onena optikoa.
Baina, baditu bere desabantailak ere:

• Aztertu nahi den xehetasun maila oso handia bada, hau da, lortu nahi diren erresoluzioak txikiak direnean, ez dute ahalmenik horrenbesteko aumentorik egiteko. Beraz gainazaleko haustura mekanismo batzuk aztertzeko ez da baliagarria.
• Bestalde, mikroskopio mota hauen “profundidad de campo” txikia da,gainazalaren zati batzuk enfokatzen dituenean gainontzeko desenfokatu egiten da.
Hau ikusita, praktika honetan erabili beharreko mikroskopio mota elektronikoa izango da. Haustura mekanismoak ikusteko ezinbesteko instrumentua da berau materialen zientzian.

3.1. Mikroskopio elektronikoak

Mikroskopio elektronikoa elektroi izpi baten oinarritzen dira. Azelerazio boltaia batenbidez, elektroiak erakartzen dira, eta elektroi horiek eremu magnetiko baten bidez bideratzean, kontzentrazio txikiko puntu batean elkartzen dira.
Hauetan lor daitezkeen aumentoak oso handiak dira, x300000 ordenakoak, hain zuzen ere. Era berean, erresoluzio maila oso txikiak dira, nanometroko distantzietan ibili daitezkeelarik.
Nahiz eta optikoen aldean...
tracking img