Control Estadistico Clase A

Páginas: 7 (1509 palabras) Publicado: 11 de julio de 2011
ALCANCE Y CAMPO DE APLICACIÓN

La NCh 44.Of2007 específica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos, la cuál esta relacionada con los niveles de calidad aceptable (AQL).
Su propósito es estimular al proveedor a través de la presión económica y sicológica de la no aceptación de los lotes, para mantener un promedio del proceso como mínimo tan bueno como el AQLespecificado. Al mismo tiempo proporciona un límite superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
Los planes de muestreo pueden ser aplicado en la inspección de :
• Ítemes terminados
• Componentes y materias primas
• Operaciones
• Materiales en proceso
• Productos almacenados
• Operaciones de mantenimiento
• Datos o registros
• Procedimientosadministrativos.
GLOSARIO

Nivel de Calidad Aceptable (AQL) : Nivel de calidad que representa el peor promedio tolerable del proceso cuando una serie continua de lotes es presentada para muestreo de aceptación.

Inspección por atributos : inspección en que el ítem se clasifica simplemente como conforme o no conforme respecto a un requisito especificado o conjunto de requisitos especificados, o secuenta el número de no conformidades en el ítem.
La inspección por atributos incluye inspección para determinar la conformidad de los itemes, así como inspección para determinar el número de no conformidades por 100 ítemes.
Ítem, unidad de producto : lo que puede ser descrito y considerado de forma individual .
No conformidad : el no cumplimiento de un requisito especificado.
Noconformidad Clase A : Aquellas no conformidades de un tipo que se considera de la mayor importancia para el producto o servicio. En el muestreo de aceptación, a dichos tipos de no conformidades se le asignarán valores de AQL muy pequeños. El número de clases, la asignación dentro de una de ellas y la elección de un AQL para cada clase, debería ser adecuado a los requisitos de calidad de la situaciónespecífica.
Defecto : el no cumplimiento de un requisito de uso previsto. Es apropiado usar el término defecto cuando una característica de calidad de un producto, o servicio es evaluada en función de su uso(como contraste a conformidad con las especificaciones).
Ítem no conforme : ítem con una o más no conformidades. Los ítems no conformes generalmente se clasificarán según su nivel de gravedad(Clase A, B o C).
Lote de producción: cantidad definida de algún producto, o servicio producido de una vez bajo condiciones que se supone son uniformes.
Lote de inspección: cantidad definida de algún producto, material, o servicio que se junta y se somete a inspección.
Tamaño del lote: número de ítemes en un lote.
Muestra: conjunto de uno o más ítemes extraídos aleatoriamente de unlote y destinados a proporcionar información sobre el lote.
Tamaño de la muestra: número de ítemes en la muestra.
Plan de muestreo: combinación del tamaño de la(s) muestra(s) a utilizar y el criterio de aceptación asociado.
Un muestreo simple es la combinación del tamaño de la muestra y los números de aceptación y rechazo.
Programa de Muestreo : combinación de planes de muestreo conReglas para el cambio de un plan a otro .
Sistema de Muestreo : Conjunto de planes de muestreo o de programas de muestreo, cada uno de ellos con sus propias reglas para el cambio de plan, junto con los procedimientos de muestreo que incluyen criterios para la elección de los planes o programas más apropiados.
Inspección Normal : Uso de un plan de muestreo con un criterio de aceptación que hasido planificado para asegurar al productor una alta probabilidad de aceptación cuando el promedio del proceso del lote es mejor que el nivel de calidad aceptable. Este tipo de inspección se usa cuando no hay razón para pensar que el promedio del proceso difiere de un nivel aceptable.
Inspección rigurosa: Uso de un plan de muestreo con criterio de aceptación que es más riguroso que el plan...
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