Curso Muestreo

ÁREA PROCESOS INDUSTRIALES

Muestreo
y
Preparación de Muestras

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CAPITULO I / Definiciones Básicas en Teoría de Muestreo

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CAPITULO II / Muestreo de Materiales

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CAPITULO III / Protocolos de Preparación de Muestras

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CAPITULO IV / Manejo de Muestras

27

CAPITULO V / Muestreo de Soluciones

ÁREA PROCESOS INDUSTRIALES

INDICE

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1.1

I:DEFINICIONES BASICAS EN TEORIA DE

GENERALIDADES

Mena:

Mezcla de minerales con contenidos de valor económico y minerales sin valor económico.

Ganga:
Mineral:

Corresponde a los minerales sin valores económicos contenidos en la mena.
Se denomina de esta manera a los minerales que contienen valores metálicos y económicos
en la mena.

Incremento: Es una cantidad de material a tomar deluniverso o parte de éste, mediante un aparato de
muestreo, con el propósito de determinar su calidad.
Lote:

Porciones o partes en que se ha subdividido el universo a estudiar y lo conforman los
incrementos.

Tamiz:

Es un harnero que tiene mallas con diferentes aberturas y espesor de alambres que lo
conforman. Las diferentes aberturas de los tamices son identificados por un número dado
porel fabricante ( Ej: Tyler, ASTM, etc ), que representa el número de hoyos por pulgada
lineal que tiene la malla.

Cortador de Muestras:
Dispositivos electromecánico que en forma automática toma incrementos, ya sea de un
flujo de solución ( electrólito ) o de mineral durante el traspaso o caída desde correas
transportadoras.
Pala Jis

Es una pala metálica que se utiliza para tomarincrementos de muestras, cuyas medidas y
forma dependen del tamaño de partícula a muestrear y del muestreo si es primario o
secundario ( reducción por incrementos ) respectivamente.
Esta pala fue desarrollada por Japanese International Standard ( Jis ).

Cuarteador

Es un dispositivo mecánico que posee canales ( ranuras ), sobre el cual se pasan las
muestras con el fin de homogeneizarlas y/oreducirlas en dos submuestras iguales. La
selección del cuarteador apropiado dependerá del tamaño máximo de partículas,
correspondiéndole un número de aberturas y ancho del cortador determinado por Norma
Jis.

Error

Es la diferencia entre un valor medido y el valor verdadero o de referencia conocido.
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ÁREA PROCESOS INDUSTRIALES

CAPITULO
MUESTREO.

1.2

Clasificación Según tipo demuestreo.

1.2.1

Muestreo al Azar:
Es aquel en que todas las unidades que componen el material (sólido-líquido) a estudiar, tienen la
misma probabilidad de ser tomadas como incremento de la muestra que represente el material.
Una de las mayores dificultades en el muestreo al azar es efectuar un verdadero muestro al azar ,
por ejemplo si se muestra una pila de mineral tomando incrementode todo el entorno, esto no
constituye un verdadero muestreo al azar, debido a que no se ha tenido acceso al interior de la pila.
Una situación similar se observa cuando se muestrea lingotes por taladrado, ya que hay una
tendencia a enfatizar áreas determinadas. En la selección de productos manufacturados para
control de calidad se usa frecuentemente tablas de números al azar, está es una delas diversas
formas que existen para garantizar un verdadero muestreo al azar.
El muestreo al azar se emplea generalmente cuando hay poca información del material en
observación o cuando se controlan productos manufacturados. En la práctica cuando se elige un
muestreo al azar, al final se trabaja con un muestreo sistemático, ésto porque en el muestreo se
desea cubrir todo el material y por ellose requiere dividirlo en áreas iguales de la cuales se
selecciona un incremento.

1.2.2

Muestreo Sistemático :
En este tipo de muestreo los incrementos son colectados a intervalos regulares, en término de
masa, tiempo o espacio definidos de antemano. La primera muestra debe sacarse al tiempo
o punto seleccionado al azar dentro del primer intervalo del muestreo.
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