determinacion de estructuras cristalinas por difraccion de rayos x

INFORME DE LABORATORIO
Nombre:
Materia/ paralelo:
Número y título de experimento

Profesor
Fecha de experimento:
Fecha de presentación:
Nombre de compañeros de laboratorio


Bryan Erasmo Samaniego Andrade
Ciencia de Materiales/Paralelo 11
Experimento No.1, Difracción de rayos X.
Cesar Rodrigo Perugachi
11 de Noviembre, 2013
25 de Noviembre, 2013
Diego Soria, CristhianRomero, Luis Ricaurte, José Córdova, Alex Aguilar

DETERMINACIÓN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS POR DIFRACCION DE RAYOS X










A) Objetivos:
Conocer la interacción de los rayos X con la materia. Difracción.
Conocer la técnica de difracción de rayos X y sus aplicaciones.
B) Resumen
El día 11 de noviembre del presente se realizó la práctica “Difracción de rayos X” la cual consistía enhacer saber al estudiante la interacción que existe entre los rayos X con la materia en este caso dos muestras (Arcilla y Poliestileno de alta densidad), y experimentar la técnica usada para realizar dichos hechos y las aplicaciones que poseen los rayos X.
La técnica usada en esta práctica es la de estudiar mediante un difractómetro de rayos X la estructura interna de las muestras dichasanteriormente para así conocer todas las propiedades que estas poseen.
Este mecanismo funciona conectado a un computador hacia donde iban todos los datos que se obtenían a partir de la interacción de los rayos X con la materia, el computador se encargaba de realizar una gráfica acerca de los resultados obtenidos la cual luego nos permitiría saber de que material está hecha la muestra, dicha graficarelaciona la intensidad de luz vs el ángulo que forma el rayo difractado teta (θ).
La grafica obtenida muestra la intensidad de luz difractada debido a la ionización de los átomos en las muestras usadas a diferentes ángulos, al final esta nos permite saber que material se ha usado.

C) Enfoque experimentales
El difractómetro de rayos X funciona en base a la ley de BRAGG, la cual nos dice que elángulo de incidencia de la longitud de onda debe ser igual al ángulo de difracción. Los estructura interna que poseen los cristales tiene ciertas características específicas, poseen una estructura molecular ordenada y tienen patrones de repetición formando una especie de planos en el espacio, el difractómetro se ha diseñado de tal manera que hace incidir sobre las muestras un haz de rayos X, estosrayos chocan contra los diferentes planos formados dentro de la muestra y debido a que algunos planos no cumplen con la ley de BRAGG esto no nos otorga ningún dato sobre el cristal, por tal razón el diseño esta hecho de tal manera que el ángulo de incidencia del haz varié respecto a la familia de planos y así todos cumplan con esta ley.
Para esto es aconsejable hacer polvo la muestra a analizar,lo que produce pequeñísimos cristales del mismo material pero diferentemente orientados, al incidir los rayos X se produce un estado de excitación en los átomos de la muestra lo que hace que se libere energía debido a la perdida de electrones produciendo una descarga de rayos X difractándose únicamente aquellos que cumplan con la ley de BRAGG, el resto de fragmentos que no lo cumplen no otorgannada acerca de la estructura de nuestra muestra. El detector de rayos X capta la intensidad de luz que llega a diferentes ángulos y en base a esto genera una gráfica caracterizada por presentar muchos picos lo cual nos permite identificar en que ángulos se obtuvo mayor intensidad de luz difractada.

D) Datos
Equipo: Difractómetro de Rayos X Panalytical,
Modelo: X’pert PRO,
Serie:12NC943003040601
Código: EM-001-00,
E) Materiales
Arcilla natural
Poliestileno de alta densidad.
F) Condiciones de prueba:
Temperatura: ambiente (25°C)
Ánodo: cobre

Arcilla
Poliestileno
Posición inicial
2
8
Posición final
80
30
Paso(2ϕ):
0.5
0.05






E) Análisis de resultados
Grafica obtenida para la identificación de la arcilla.









Grafica obtenida para la...