Microscopio Electronico De Barrido

Universidad Católica del Táchira
Facultad de Ciencias Jurídicas y Políticas
Ciencias Penales y Criminalísticas
Escuela de Derecho.


MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO Y
BALÍSTICA COMPARATIVA

Introducción
En fin El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz paraformar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, produce imágenes de alta resolución, muestra imágenes en tres dimensiones, y muchas más características que lo distinguen de otros tipos de microscopios. Sus antecedentes remotan desde una simple lupa, pasando al microscopio óptico y llegando al microscopio compuesto, el cual al ser modificado por la actual tecnología, produjo este maravillosomicroscopio, llamado electrónico de barrido o simplemente SEM. Su funcionamiento consta del uso de un haz de electrones para formar una imagen. Posee una gran variedad de características técnicas que lo definen como su sistema de microanálisis de rayos x, o sus electroimanes que transforman la muestra como conductora metalizando su superficie. Todo esto y mas se hace referencia en el presentetrabajo.
Por otro lado el enorme progreso tecnológico experimentado por nuestro siglo ha acarreado, por una parte, el nacimiento de nuevas ciencias y, por otra, el desarrollo de ciencias cuyos orígenes no se remontan más allá del siglo pasado. En este último caso se encuentra la Criminalística, que es una disciplina o una rama cualquiera del conocimiento humano. Pero cabria preguntarse si laCriminalística, rama del conocimiento humano, es una ciencia o técnica, respondiendo afirmativamente en ambos sentidos. Efectivamente, la Criminalística es una verdadera ciencia, en cuanto que consta de un conjunto de conocimientos verdaderos o probables. Pero el presente trabajo de investigación hablaremos de una de sus ramas mas importante que es la Balística, cuyo concepto, objeto de estudio,metódico y fin trataremos de aclarar en el presente trabajo.

Microscopio electrónico de barrido
El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de altaresolución, que significa que características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.
Es capaz de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen de TV o una imagen digital. Su resolución está entre 3 y 20 nm,dependiendo del microscopio. El poder resolutivo del microscopio no guarda relación alguna con el aumento del mismo. Depende principalmente de la apertura numérica de la lente y de la longitud de onda de la luz utilizada. Sin abocarnos demasiado a definir "apertura numérica" podemos decir que es un valor determinado, entre otras cosas, por el diámetro de la lente. Por otra parte existe otro microscopioel cual definiremos a continuación:
Microscopio eléctrico de campo de iones: (FIM) Al contrario que los microscopios convencionales, donde la resolución espacial se ve limitada por la longitud de onda de las partículas empleadas en la visualización, el microscopio basado en FIM funciona por proyección y alcanza resoluciones atómicas, con una magnificación aproximada de unos pocos millones deaumentos.
Un microscopio electrónico de transmisión posee un sistema de visualización complejo equipado con una serie de lentes electromagnéticas que permiten regular el haz de electrones al punto de revelar detalles estructurales extremadamente finos. Su poder de resolución y de magnificación es superior en mas de mil veces al obtenido con un microscopio fotónico, pudiéndose alcanzar resoluciones...