PRACTICA DE ESTATICA Y DINAMICA 1

UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DE TABASCO
División de Procesos Industriales
TSU en Mantenimiento Área Industrial.

Reporte de Practica:
Uso de los equipos de medición Micrómetro de Palmer y Calibrador Vernier Universal o Pie de rey

Asignatura
Estática y Dinámica
Facilitador
Ing. Trinidad Cruz Sánchez
Integrantes del Equipo
Zhenia Yazmin López Bayona
Lucero Mondragón Genarez
Ana Laura Jiménez LaraFelipe Emiliano de la Cruz Sosa
Ricardo Ascencio Pedraza
Juan Manuel Bentura Medina
Moisés Magaña Hernández
Alexis De la Cruz Sánchez



Tabla de contenido

1. INTRODUCCION 5
2. MARCO TEORICO 6
2.1 Calibrador Vernier universal o Pie de rey 7
2.2 Micrómetro 8
3. OBJETIVOS 11
3.1 Objetivo de la Práctica: 11
3.2 Objetivos Específicos de la Práctica: 11
4. MATERIAL Y EQUIPO UTILIZADO 12
5. DESARROLLO DELA PRÁCTICA 12
6. RESULTADOS Y OBSERVACIONES 13
7. EVIDENCIA FOTOGRAFICA 14
VERNIER 14
8. CUESTIONARIO 22
9. CONCLUSION 24
BIBLIOGRAFIA 25
WEBGRAFIA 25










1. INTRODUCCION

La metrología es una de las ramas de la física que estudia las mediciones de las magnitudes garantizando su normalización mediante la trazabilidad. Acorta la incertidumbre en las medidas mediante un campo de tolerancia.Incluye el estudio, mantenimiento y aplicación del sistema de pesos y medidas. Actúa tanto en los ámbitos científico, industrial y legal, como en cualquier otro demandado por la sociedad. Su objetivo fundamental es la obtención y expresión del valor de las magnitudes empleando para ello instrumentos, métodos y medios apropiados, con la exactitud requerida en cada caso.
En este trabajo se muestrael uso de dos equipos de medición llamados Micrómetro de Palmer y Pie de rey o calibrador Vernier Universal; así mismo la solución de problemas mediante el uso de fórmulas.










2. MARCO TEORICO
La metrología trata de las medidas de los sistemas de unidades adoptados y los instrumentos usados para efectuarlas e interpretarlas. Abarca varios campos, tales como la metrología térmica, eléctrica,acústica, dimensional, entre otras.
Dentro de la industria, la metrología dimensional es una de las más utilizadas, esta se puede clasificar según su campo de aplicación en:
Longitud: interiores, exteriores y profundidades
Ángulos: ángulo cualesquiera
Superficies: rugosidad
Formas: rectitud, planitud, paralelismo, perpendicularidad, concentricidad, etc.
Los instrumentos para mediciones delongitud pueden ser de medida directa, cuando el valor de la medida se obtiene directamente de los trazos y divisiones de los instrumentos (como son el metro, regla graduada, calibradores vernier, micrómetros, etc.) o bien puede ser indirecta, donde para obtener el valor de la medida se necesita compararla con alguna referencia (todos los comparadores).
Al realizar una medición las lecturas que seobtienen nunca son exactamente iguales, aun cuando las efectué la misma persona, sobre la misma pieza, con el mismo instrumento, el mismo método y en el mismo ambiente; si las mediciones las hacen diferentes personas con distintos instrumentos o métodos entonces las variaciones en las lecturas son mayores. Esta variación puede ser relativamente grande o pequeña, pero siempre existirá. Los errorespueden ser diversos y dependen de varios factores.
2.1 Calibrador Vernier universal o Pie de rey

Es un instrumento de medición directa, con la cual se pueden hacer mediciones con cierto grado de exactitud, de acuerdo a la legibilidad del mismo. Este instrumento está compuesto de una regla rígida graduada en cuyo extremo lleva un palpador, sobre la regla se desliza un cursor al que se le da el nombrede Vernier o Nonio, cuyas graduaciones difieren de una regla principal; y son las que determinan la legibilidad del instrumento. Este cursor va unido a otro tope al que se le denomina palpador móvil.

Figura 1. Calibrador Vernier Universal o Pie de rey
1. Mordazas para medidas externas.
2. Mordazas para medidas internas.
3. Coliza para medida de profundidades.
4. Escala con divisiones en...