Practica MIcroscopio Taller


INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL
ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERÍA MECÁNICA Y ELÉCTRICA
UNIDAD PROFESIONAL TICOMÁN
INGENIERÍA EN AERONÁUTICA
LABORATORIO DE ENSAYO DE MATERIALES – TV
METROLOGIA.
PRÁCTICA NO. 4 “MICROOSCOPIO DE TALLER”


NOMBRE DEL PROFESOR: DAVID ANAYA GALLEGOS
NOMBRE DEL PROFESOR DE TEORÍA: ESPINOSA PICAZO ALFONSO
GRUPO: 4AV1
TURNO: VESPERTINO
INTEGRANTES DEL EQUIPO:GUTIÉRREZ DÍAZ JAVIER
CINTA FUENTES ROY
HUERTA BÁTIZ HÉCTOR
FECHA DE ELABORACIÓN DE LA PRÁCTICA: 18 DE OCT 2013
FECHA DE ENTREGA DE LA PRÁCTICA: 28 DE OCT 2013



CALIFICACIÓN __________





OBJETIVO
CONDICIONES AMBIENTALES
Valores iniciales

Valores Finales
Temperatura
Temperatura
18.3 °C

20.5 °C
Humedad
Humedad
38%
36%

MATERIAL,HERRAMIENTA Y EQUIPO UTILIZADO
EQUIPO UTILIZADO: MICROSCOPIO DE TALLER Y CIRCUITO

Ilustración ; Microscopio de taller y placa

CONSIDERACIONES TEÓRICAS
Es considerado un aparato de lectura óptico-mecánico, en el que la pieza se monta sobre una mesa que posee desplazamientos horizontales, transversales o circulares, lo que nos permite realizar mediciones exactas; en el que el dispositivo ópticosirve para la fijación visual de un punto o un trazo, mismo que se toma como referencia para la medición de la pieza, gracias a graduaciones apropiadas.

“Sistema óptico del microscopio”. En el microscopio observamos la pieza bajo un determinado aumento; el cual está constituido por un sistema de lentes, los que a su vez permiten observar una imagen nítida y libre de errores provocados por elfenómeno de aberración cromática (descomposición de la luz en sus colores).

“Funcionamiento y Aumentos”. La imagen que se forma de la pieza es virtual y de un determinado aumento, mismo que depende de las características del objetivo y del ocular utilizados. El microscopio tiene la posibilidad de cambiar de forma indistinta los sistemas de lentes para así poder realizar una gran variedad deaumentos. En la práctica se emplean de 15x a 50x (el más común es de 30x, para la medición de perfiles). Con el incremento del aumento se disminuye el campo visual, por lo que se utiliza 15X para tener la posibilidad de comparar una mayor zona de la pieza en estudio (roscas con paso menor de 0.5 mm).

“Iluminación”. Es suficiente iluminar la pieza directamente con luz solar o con la emanada con unalámpara eléctrica (6V-15V); observándose la posición de la pieza a través del ocular (método episcópico). Para inspeccionar un perfil se puede emplear la iluminación del objeto desde abajo; viéndose la pieza obscura sobre un fondo claro (método diascopico). El microscopio de Taller se usa también para mediciones por comparación, el cual se encuentra provisto de placas transparentes sobre lascuales están trazadas perfiles teóricos (escalas graduadas en aumentos que concuerdan por los realizados por el microscopio). La posición de esta placa dentro del sistema óptico, se debe ser ajustar de forma adecuada para que coincida con el plano focal del objetivo para evitar el fenómeno de paralelaje (posición del ojo respecto a la del ocular), observándose un desplazamiento de la imagen de la piezacon respecto al perfil teórico trazado sobre esa placa. Se debe ajustar adecuadamente la posición del retículo (se desajusta por vibraciones), éste a su vez posee líneas de referencia (una cruz, dobles trazos ortogonales, círculos concéntricos, etc.).
El microscopio para taller dispone de la función de luz transmitida y luz reflejada, lo que le permite investigar materiales trasparentes y notransparentes o sólidos. Gracias a estas funciones, puede usar el microscopio para taller de forma versátil. Además, destaca por su manejo sencillo.
 Los microscopios se componen fundamentalmente de dos componentes ópticos, el objetivo y el ocular que van unidos a través del tubo, de un dispositivo de iluminación así como de una mesa del objeto y de un trípode para la sujeción de los componentes...