Presentacion De Matenimiento

Universidad Gran Mariscal de Ayacucho

Facultad de Ingeniería

Escuela de Mantenimiento

Núcleo Barcelona

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Barcelona, 02 de Noviembre de 2010.

INDICE

Introducción

Análisisde modo y efecto de falla (AMEF)……………………………………….. 04

Diagrama causa efecto ISHIKAWA……………………………………………….. 08

Diagrama de Pareto…………………………………………………………………. 10

Conclusión

INTRODUCCIÒNLos Diagramas Causa-Efecto ayudan a los estudiantes a pensar sobre todas las causas reales y potenciales de un suceso o problema, y no solamente en las más obvias o simples. Además, son idóneospara motivar el análisis y la discusión grupal, de manera que cada equipo de trabajo pueda ampliar su comprensión del problema, visualizar las razones, motivos o factores principales y secundarios,identificar posibles soluciones, tomar decisiones y, organizar planes de acción

ANALISIS DE MODO Y EFECTO DE FALLA (AMEF)

El Análisis de modos y efectos de fallas potenciales AMEF, es unproceso sistemático para la identificación de las fallas potenciales del diseño de un producto o de un proceso antes de que éstas ocurran, con el propósito de eliminarlas o de minimizar el riesgo asociado alas mismas.

Por lo tanto, el AMEF puede ser considerado como un método analítico estandarizado para detectar y eliminar problemas de forma sistemática y total cuyos objetivos principales son:• Reconocer y evaluar los modos de fallas potenciales y las causas asociadas con el diseño y manufactura de un producto

• Determinar los efectos de las fallas potenciales en el desempeño delsistema
Identificar las acciones que podrán eliminar o reducir la oportunidad de que ocurra la falla potencial

• Analizar la confiabilidad del sistema documentar el proceso.

Aunqueel método del AMEF generalmente ha sido utilizado por las industrias, éste es aplicable para la detección y bloqueo de las causas de fallas potenciales en productos y procesos de cualquier clase de...