Valvulas rotatorias

Apuntes de Microscopía Electrónica La microscopía electrónica de barrido y de transmisión es utilizada como una de las técnicas más versátiles en el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos. Estas técnicas nos permiten observar muestras relacionadas con el campo de la ciencia de materiales y de materiales biológicos. Otra característica importante demicroscopía electrónica de barrido (SEM) es que podemos observar muestras en tres dimensiones en contraste con la microscopía electrónica de transmisión (TEM) en donde las muestras son observadas en dos dimensiones, lo cual representa una pérdida en información relacionada con el espesor. Además de que para ésta ultima técnica la preparación de la muestra debe ser lo suficientemente delgada como para sertransparente al haz de electrones. La versatilidad de la microscopía electrónica de barrido respecto a transmisión se deriva en gran medida de la gran variedad de interacciones que sufre el haz de electrones en el espécimen y la preparación. Las interacciones pueden dar información sobre la composición del espécimen, topografía, cristalografía, potencial eléctrico, campo magnético local, etc. Enel TEM como en el SEM las interacciones pueden ser divididas en dos clases. 1.- Fenómenos de dispersión elástica que afectan las trayectorias del haz de electrones dentro del espécimen sin alterar la energía cinética de los electrones. La dispersión elástica es responsable del fenómeno de retrodispersión electrónica que es la responsable de la formación de algunas técnicas de observación en SEM.2.- Eventos de dispersión inelástica, dan como origen a diferentes tipos de señales como resultado de la pérdida de energía o transferencia de energía a los átomos del espécimen que conducen a la generación de electrones secundarios, electrones Auger, rayos X característicos y bremsstrahlung (el contínuo o fondo), pares electrónagujero en semiconductores y aislantes, radiación electromagnética delongitud de onda larga en el visible, radiaciones ultravioleta e infrarroja del espectro, vibraciones de la red (fonones) y oscilaciones colectivas de los electrones en los metales (plasmones). Los dos tipos de microscopía deben trabajar en un sistema de vacío tal que permita el viaje del haz de electrones a través de la columna. El sistema de vacío en general es similar. Dependiendo de lasnecesidades del equipo y las técnicas a utilizar será el nivel de vacío requerido.

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Laboratorio de Microscopía Electrónica UAM -I

Interacción de los electrones con la muestra

A continuación se describirá el sistema de vacío en general para un Microscopio Electrónico. Introducción a las técnicas de vacío Una condición idealizada del medio ambiente dentro de un microscopio es que no existaninguna partícula de gas o de sólidos que provoquen colisiones en el sistema. En la realidad estas condiciones no son posibles de obtener en su totalidad. Generalmente habrá una presencia mínima de moléculas de aire en el sistema así como material residual del espécimen que puede llegar a evaporarse dentro del microscopio. Para mejorar el medio ambiente donde viajará el haz de electrones esnecesario contar con un sistema de vacío. El objetivo es eliminar las moléculas indeseables y así mejorar las condiciones de su trayectoria hacia la muestra. Habrá diferentes niveles de vacío que se traducen en un medio ambiente mas limpio dentro de la columna del microscopio. Lo anterior contribuye a la mejor emisión del haz como hasta en la alta calidad de la imagen misma. Sistema de bombas de vacío enlos microscopios Dado lo anterior podemos tener diferentes tipos de bombas de vacío que se pueden clasificar fundamentalmente en dos clases: i) Las que comprimen en una o más etapas las partículas de gas presente que va a ser succionado, o sea de compresión y

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Aquellas que por condensación o por unión química condensan las partículas...