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Resumen
En la difracción de rayos x, el fundamento reside en el fenómeno conocido como dispersión “scattering” de una radiación X cuando incide sobre la materia. Este fenómeno consiste en que parte de la radiación X incidente se desvía de su dirección original por interacción con el material irradiado, en este laboratorio estudiaremos una muestra de mineral, para determinar quematerial es que tiene mayor presencia al comprender la técnica a utilizar y la preparación.
Se prepara una muestra de mineral, debe estar entre malla 300 y 400 Tyler, se coloca en un porta muestra lateral y luego se introduce a la maquina de difracción de rayos para su análisis, una vez terminado el análisis se encuentra que la hidroxiapatita es el compuesto en mayor abundancia y se procede acomparar los resultados del análisis con los teóricos de la hidroxiapatita, al ser minima la diferencia en estos datos, se puede aseverar que el compuesto en mayor abundancia es la hidroxiapatita.




Índice

1.- Objetivos..................................................................................................................... 2
2.- Introducción y materiales........................................................................................ 3
3.- Procedimiento Experimental................................................................................... 4
4.- Resultados................................................................................................................... 5
5.-Discusiones................................................................................................................. 6
6.- Conclusiones.............................................................................................................. 7
7.- Bibliografía ……………............................................................................................ 8
8.-Apéndice……………..................................................................................................9























1. Objetivos
Comprender la técnica de difracción de rayos X.
Conocer las partes del equipo.
Conocer la metodología para realizar la preparación de la muestra.
Conocer la base de datos usada.
Analizar las diferentes variables para realizar un análisis de Difracción de Rayos X.























2. Introducción
Leyde Bragg:

La ley de Bragg permite estudiar las direcciones en las que la difracción de rayos X sobre la superficie de un cristal produce interferencias constructivas, dado que permite predecir los ángulos en los que los rayos X son difractados por un material con estructura atómica periódica (materiales cristalinos).
La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la radiaciónemitida por diferentes átomos es proporcional a 2π. Esta condición se expresa en la ley de Bragg:

Estructuras Cristalinas:
Es un arreglo cristalino periódico o patrón tridimensional que se repite por muchas distancias interatómicas (largo alcance), en el que cada átomo está enlazado a sus vecinos más cercanos. Los arreglos de átomos y iones desempeñan una función importante en la determinación dela microestructura y las propiedades de un material.
Estructuras Amorfas:
Son materiales que presentan un ordenamiento de corto alcance de átomos o iones. Existen algunos materiales en los que se produce una estructura desordenada en forma directa desde el estado líquido durante la solidificación. Se llaman “vidrios”, por lo que los metales amorfos son comúnmente referidos como "vidriosmetálicos" o "metales vítreos".


3. Materiales

Muestra a analizar
Siemens D500 X-ray Difractometer
Configuración Bragg-bretano
Base de datos “POWER DIFRACTION FILE”
Muestra mineral en polvo



4. Procedimiento experimental

Para realizar el análisis de muestra, primero se debe reducir el tamaño de partícula de la muestra con un mortero, la muestra debe estar entre malla 300 y 400 Tyler,...