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Determinación de las estructuras cristalinas Las estructuras cristalinas pueden identificarse por medio de la aplicación de las técnicas de difracción de rayos X.  Estas se fundamentan en losfenómenos que aparecen cuando un haz de rayos X de una determinada longitud de onda inciden en una estructura cristalina. En efecto, la radiación X incidente provoca que los átomos del cristal emitan unaradiación electromagnética de la misma longitud de onda  la que en cuanto se cumplen ciertas condiciones se produce una difracción. La figura 3.39 muestra un corte de un cristal que tiene planosatómicos con una distancia interplanar dhkl, siendo hkl los índices de Miller del plano cristalino. | |


Figura 3.39. Esquema de la difracción de rayos X |

| Los planos son perpendiculares aldibujo. Un haz de radiación de longitud de onda  incide sobre el cristal en algún ángulo . La difracción debida a la dispersión de Thomson producirá una fuerte reflexión en un ángulo si se cumplen lascondiciones siguientes: a) Sólo es posible un ángulo  tal que  = 
b)  debe satisfacer la ley de Bragg, es decir:
(3.11)siendo n un número entero = 1, 2, 3...
A mayores valores de n, laintensidad reflejada se reduce rápidamente. c) Es posible que los átomos que se localizan entre los planos difractantes estén colocados de tal modo que se destruye el haz difractado. En consecuencia, cadatipo de estructura cristalina dispone de unos definidos planos cristalinos conocidos que producen difracción.
  4.1 DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X El difractómetro de rayos X es el instrumento que permitela identificación de las estructuras cristalinas, fundamentado en la difracción según Bragg. En esencia consta de una fuente de radiación K monocromática, un portaprobetas móvil con ángulo variable,2, y un contador de radiación X asociado al portamuestras. La figura 3.40  muestra esta disposición básica. | |


Figura 3.40. Esquema básico de un difractómetro de rayos X. |

| La...
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