Aasasas
Figura 3.39. Esquema de la difracción de rayos X |
| Los planos son perpendiculares aldibujo. Un haz de radiación de longitud de onda incide sobre el cristal en algún ángulo . La difracción debida a la dispersión de Thomson producirá una fuerte reflexión en un ángulo si se cumplen lascondiciones siguientes: a) Sólo es posible un ángulo tal que =
b) debe satisfacer la ley de Bragg, es decir:
(3.11)siendo n un número entero = 1, 2, 3...
A mayores valores de n, laintensidad reflejada se reduce rápidamente. c) Es posible que los átomos que se localizan entre los planos difractantes estén colocados de tal modo que se destruye el haz difractado. En consecuencia, cadatipo de estructura cristalina dispone de unos definidos planos cristalinos conocidos que producen difracción.
4.1 DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X El difractómetro de rayos X es el instrumento que permitela identificación de las estructuras cristalinas, fundamentado en la difracción según Bragg. En esencia consta de una fuente de radiación K monocromática, un portaprobetas móvil con ángulo variable,2, y un contador de radiación X asociado al portamuestras. La figura 3.40 muestra esta disposición básica. | |
Figura 3.40. Esquema básico de un difractómetro de rayos X. |
| La...
Regístrate para leer el documento completo.