Calidad
Páginas: 29 (7062 palabras)
Publicado: 28 de agosto de 2012
5.7 Uso de tablas de muestreo Mil-Std- 105 d., Dodge-Romig y Mil-Std-414.
EL SISEMA DODGE-ROMIG PARA EL MUESTREO DE ACEPATCIÓN LOTE POR LOTE
Un procedimiento para muestreo por atributos que incluye considerar los efectos de la inspección detallada del producto rechazado debe ser escogido por la persona encargada del procedimiento de muestreo y para esto debe tomar en cuenta dos cosas: el“Sampling Inspection Tables” por Dodge y Romig, y “Sampling Inspection” por el SRG de Columbia University.
Las tablas de Dodge y Romig fueron utilizadas primeramente para uso interno en Bell Telephone System para reducir al mínimo la cantidad total de inspección, tomando en cuenta la inspección para muestreo y la inspección para selección de los lotes rechazados.
Dodge-Romig contiene cuatrogrupos de tablas:
Estadística y Control de Calidad
Unidad 5. Muestreo de Aceptación
I. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo sencillo.
II. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo doble.
III. Tablas de AOQL para muestreo sencillo.
IV. Tablas de AOQL para muestreo doble.
En el grupo I todos los planes de muestreo en esta tabla tienen el mismoporcentaje de defectivo tolerable en el lote. Pero los planes tienen diferentes valores de AOQL, los cuales se presentan en la tabla para cada uno.
La tabla tiene seis columnas, cada una para un valor diferente de porcentaje promedio de defectivos en el proceso. La finalidad de estas tres columnas diferentes es indicar el plan que incluya la inspección total mínima, al considerar tanto lainspección de las muestras y la inspección de 100% de los lotes rechazados.
En el grupo II sería básicamente como el del grupo I, pero para diferenciarlos es necesario hacer una comparación en cualquier plan de muestreo sencillo con uno doble del mismo lote y el promedio del proceso que produzca la misma protección de la calidad para el lote. La primera muestra del doble es más pequeña que lamuestra única en un sencillo. Dodge-Romig muestra en su obra un diagrama el cual compara la inspección con muestreo sencillo y doble para diversos tamaños de lotes y relaciones entre promedio del proceso y fracción de defectivos tolerables en el lote. Una característica de todos los planes de muestreo doble es que C2 es siempre de uno o más, lo cual significa que no se rechaza ningún lote serechazará si tiene una sola pieza defectiva.
En el grupo III al contrario de que todos los planes para muestreo sencillo tuvieron el mismo LTPD, todos los planes tienen el mismo AOQL, además se presenta el porcentaje de defectivos tolerables en el lote para cada plan. Cuanto mayor son el tamaño de la muestra y el número de aceptación para un AOQL determinado, menor será el LPTD.
Hay columnaspara los promedios de los diversos procesos; el plan que hay en cada columna es el que da la inspección mínima total para el promedio del proceso que se cita en la cabeza de la columna. Por tanto, todos los planes en cualquier línea de la tabla son iguales en protección de calidad y sólo difieren en la cantidad total de inspección requerida. Si no hay base para estimar el promedio del proceso, elplan de muestreo se debe escoger en la columna derecha de la tabla.
En el grupo IV las tablas que incluyen conceptos y muestreo sencillo y doble han estado disponibles en el sistema Bell para aplicarlos a todos los tipos de inspección. Se necesita que Dodge-Romig confirmen que las tablas AOQL para muestreo doble son las más útiles de todas.
Determinación del promedio del proceso en lainspección de Dodge-Romig.
La minimización de la inspección total depende de efectuar una estimación correcta del promedio del proceso como base para la selección del plan de muestreo. Es ventajoso emplear en forma sistemática los resultados de la inspección de muestreo a fin de determinar el promedio del proceso.
Un formato impreso es para registrar los números inspeccionados y los...
EL SISEMA DODGE-ROMIG PARA EL MUESTREO DE ACEPATCIÓN LOTE POR LOTE
Un procedimiento para muestreo por atributos que incluye considerar los efectos de la inspección detallada del producto rechazado debe ser escogido por la persona encargada del procedimiento de muestreo y para esto debe tomar en cuenta dos cosas: el“Sampling Inspection Tables” por Dodge y Romig, y “Sampling Inspection” por el SRG de Columbia University.
Las tablas de Dodge y Romig fueron utilizadas primeramente para uso interno en Bell Telephone System para reducir al mínimo la cantidad total de inspección, tomando en cuenta la inspección para muestreo y la inspección para selección de los lotes rechazados.
Dodge-Romig contiene cuatrogrupos de tablas:
Estadística y Control de Calidad
Unidad 5. Muestreo de Aceptación
I. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo sencillo.
II. Tablas de tolerancias de lotes para planes de muestreo doble.
III. Tablas de AOQL para muestreo sencillo.
IV. Tablas de AOQL para muestreo doble.
En el grupo I todos los planes de muestreo en esta tabla tienen el mismoporcentaje de defectivo tolerable en el lote. Pero los planes tienen diferentes valores de AOQL, los cuales se presentan en la tabla para cada uno.
La tabla tiene seis columnas, cada una para un valor diferente de porcentaje promedio de defectivos en el proceso. La finalidad de estas tres columnas diferentes es indicar el plan que incluya la inspección total mínima, al considerar tanto lainspección de las muestras y la inspección de 100% de los lotes rechazados.
En el grupo II sería básicamente como el del grupo I, pero para diferenciarlos es necesario hacer una comparación en cualquier plan de muestreo sencillo con uno doble del mismo lote y el promedio del proceso que produzca la misma protección de la calidad para el lote. La primera muestra del doble es más pequeña que lamuestra única en un sencillo. Dodge-Romig muestra en su obra un diagrama el cual compara la inspección con muestreo sencillo y doble para diversos tamaños de lotes y relaciones entre promedio del proceso y fracción de defectivos tolerables en el lote. Una característica de todos los planes de muestreo doble es que C2 es siempre de uno o más, lo cual significa que no se rechaza ningún lote serechazará si tiene una sola pieza defectiva.
En el grupo III al contrario de que todos los planes para muestreo sencillo tuvieron el mismo LTPD, todos los planes tienen el mismo AOQL, además se presenta el porcentaje de defectivos tolerables en el lote para cada plan. Cuanto mayor son el tamaño de la muestra y el número de aceptación para un AOQL determinado, menor será el LPTD.
Hay columnaspara los promedios de los diversos procesos; el plan que hay en cada columna es el que da la inspección mínima total para el promedio del proceso que se cita en la cabeza de la columna. Por tanto, todos los planes en cualquier línea de la tabla son iguales en protección de calidad y sólo difieren en la cantidad total de inspección requerida. Si no hay base para estimar el promedio del proceso, elplan de muestreo se debe escoger en la columna derecha de la tabla.
En el grupo IV las tablas que incluyen conceptos y muestreo sencillo y doble han estado disponibles en el sistema Bell para aplicarlos a todos los tipos de inspección. Se necesita que Dodge-Romig confirmen que las tablas AOQL para muestreo doble son las más útiles de todas.
Determinación del promedio del proceso en lainspección de Dodge-Romig.
La minimización de la inspección total depende de efectuar una estimación correcta del promedio del proceso como base para la selección del plan de muestreo. Es ventajoso emplear en forma sistemática los resultados de la inspección de muestreo a fin de determinar el promedio del proceso.
Un formato impreso es para registrar los números inspeccionados y los...
Leer documento completo
Regístrate para leer el documento completo.