Difracción De Rayos X

Determinación de las estructuras y características de red de compuestos en el software EVA.
I.Q. Roberto Sánchez Sosa, Maestría en Tecnología Avanzada, Grupo Ciams, IPN-Cicata-Altamira.22/febrero/2012
Introducción.
El análisis de una muestra mediante el difractometro de rayos X con la obtención de sus respectivos difractogramas solo es el comienzo para la identitificaciónde las estructuras y características de red de los compuestos, la interpretación de los datos del difractograma se realiza con la ayuda del software EVA, el cual contiene una base de datos de losdiferentes compuestos y elementos lo cual facilita la identificación de las estructuras y características de red. En este reporte se llevara a cabo la descripción de los pasos para realizar dicha tarea.Datos experimentales para la obtención de los difractogramas.
* Difractometro de rayos X Bruker D8 Advance.
* λcu=1.5406 nm.
* Step size = 0.10º.
* Scan speed = 1 segundos.
* 2Ѳ=20º a 80º.
Nota: Se utilizaron los 3 difractogramas obtenidos de la práctica N.-2 para el desarrollo de la esta práctica (Silicio, Aluminio y Cloruro de Sodio).
Desarrollo de la práctica.
1.- Usodel Software EVA.
En primer lugar se procede a ingresar al software EVA y a buscar el icono de herramientas junto con el icono de búsqueda, después de presionarlos se despliegan en pantalla 2 ventanasen una de ellas aparece la tabla periódica con cada elemento en forma de celda para poder ser seleccionados en la búsqueda (Ver figura 1).

Figura 1.
Después se ingresa a “file”, se abre eldifractograma obtenido en la práctica anterior el cual será comparado con la base de datos, se observa como aparece el difractograma en la pantalla del software (Ver figura 2).

Figura 2
El siguientepaso consiste en seleccionar los elementos que forman parte del compuesto que se desea comparar con la base de datos del software EVA y se presiona “search”. En la pantalla de herramientas, se...