Espectrofotometria
Páginas: 2 (317 palabras)
Publicado: 8 de junio de 2012
DIFRACCIÓN DE RAYOS X A BAJO ÁNGULO (SAXS)
La dispersión de rayos X a bajo ángulo (Small-angle X-ray Scattering, SAXS) es una
técnica analítica, no destructiva, empleada para la caracterizaciónestructural de
materiales en el rango de los nanometros. La muestra es irradiada con un haz de rayos X
monocromático y a partir de la distribución de intensidades a muy bajo ángulo es
posibleobtener información sobre tamaño o distribución de tamaños de partículas,
forma de partículas y estructura interna. Esta técnica se emplea en partículas con un
tamaño comprendido entre 0.5 y 200 nm enmateriales tales como: cristales líquidos,
películas de polímeros, microemulsiones, catalizadores, proteinas, virus etc.
El equipo necesario para realizar este tipo de análisis t iene diferenciasnotables respecto
a un difractómetro convencional. Normalmente se trabaja en transmisión. Es necesario
un haz de rayos X muy fino de manera que pueda ser interceptado sin bloquear la
intensidaddispersada, una mayor distancia de la muestra al detector permite que se
separe el haz dispersado del incidente y disminuye el background. Es necesario también
que exista vacío desde la fuente de rayos Xhasta el detector, además se utiliza un
detector PSD.
La interpretación de los datos SAXS puede ser realmente compleja; en los casos más
favorables es posible utilizar métodos directos en los que seinterpretan los datos
(corregidos con el background) sin manipulación o también es posible aplicarles la
transformada de fourier para obtener información del espacio real de manera análoga a
lamicroscopía de transmisión electrónica.
Técnicas SAXS y WAXS.
La dispersión de rayos X con longitudes de onda del orden de 0.1 nm se utilizan
ampliamente para la caracterización estructuralde la materia, partiendo de la Ley de
Bragg en la que existe una relación inversa entre el ángulo de dispersión y el tamaño del
objeto dispersado (senθ α 1/d), la dispersión a ángulos pequeños...
La dispersión de rayos X a bajo ángulo (Small-angle X-ray Scattering, SAXS) es una
técnica analítica, no destructiva, empleada para la caracterizaciónestructural de
materiales en el rango de los nanometros. La muestra es irradiada con un haz de rayos X
monocromático y a partir de la distribución de intensidades a muy bajo ángulo es
posibleobtener información sobre tamaño o distribución de tamaños de partículas,
forma de partículas y estructura interna. Esta técnica se emplea en partículas con un
tamaño comprendido entre 0.5 y 200 nm enmateriales tales como: cristales líquidos,
películas de polímeros, microemulsiones, catalizadores, proteinas, virus etc.
El equipo necesario para realizar este tipo de análisis t iene diferenciasnotables respecto
a un difractómetro convencional. Normalmente se trabaja en transmisión. Es necesario
un haz de rayos X muy fino de manera que pueda ser interceptado sin bloquear la
intensidaddispersada, una mayor distancia de la muestra al detector permite que se
separe el haz dispersado del incidente y disminuye el background. Es necesario también
que exista vacío desde la fuente de rayos Xhasta el detector, además se utiliza un
detector PSD.
La interpretación de los datos SAXS puede ser realmente compleja; en los casos más
favorables es posible utilizar métodos directos en los que seinterpretan los datos
(corregidos con el background) sin manipulación o también es posible aplicarles la
transformada de fourier para obtener información del espacio real de manera análoga a
lamicroscopía de transmisión electrónica.
Técnicas SAXS y WAXS.
La dispersión de rayos X con longitudes de onda del orden de 0.1 nm se utilizan
ampliamente para la caracterización estructuralde la materia, partiendo de la Ley de
Bragg en la que existe una relación inversa entre el ángulo de dispersión y el tamaño del
objeto dispersado (senθ α 1/d), la dispersión a ángulos pequeños...
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