IMPACTO ELECTRONICO

Fuentes de bombardeo por átomos rápidos (FAB=Fast Atom Bombardment) o iones (SIMS = Secondary ion MS)
Al bombardear la superficie de una muestra sólida con un haz de iones primarios se origina la emisión de iones secundarios característicos de la muestra. El análisis de estos iones secundarios por medio de un espectrómetro de masas constituye la técnica SIMS muy utilizada para analizarsuperficies sólidas metálicas. Sin embargo la técnica SIMS no ha sido muy utilizada para analizar muestras orgánicas por razones tales como su carácter destructivo, la aparición de cargas superficiales al ser muestras eléctricamente aislantes, etc.
Al bombardear la superficie de un líquido con un haz de átomos rápidos se produce la desorción continua de iones característicos del líquido. Si sedisuelve una muestra en un disolvente, el bombardeo produce iones moleculares positivos y negativos de la muestra. Esta técnica de bombardeo, que es en realidad una variante de la SIMS, se denomina FAB o bombardeo con átomos rápidos. Las fuentes de bombardeo por átomos rápidos (FAB) han adquirido un papel importante en la producción de iones para el estudio por espectrometría de masas de especies deelevado peso molecular. Con este tipo de fuentes, las muestras en un estado condensado, a menudo en una matriz de una disolución de glicerol, se ionizan por bombardeo con átomos de elevada energía (varios keV) de xenón o argón. Tanto los iones positivos como negativos del analito son expulsados de la superficie de la muestra por un proceso de desorción. Este tratamiento permite un calentamiento muyrápido de la muestra, lo que reduce su fragmentación. La matriz líquida ayuda a reducir la energía reticular, la cual debe ser vencida para que se desorba un ion de la fase condensada y proporcione una manera de eliminar el efecto producido por el bombardeo. Los haces de átomos rápidos se obtienen haciendo pasar iones acelerados de argón o xenón de una fuente de iones, o una sonda, a través deuna cámara que contieneátomos de argón o de xenón a una presión de aproximadamente 10-5 torr. Los iones con elevada velocidad experimentan una reacción de intercambio de electrones en resonancia con los átomos sin que se produzca una pérdida sustancial de energía traslacional, de modo que se forma un haz de átomos de alta energía. Los iones de baja energía resultado del intercambio se eliminanrápidamente al ser desviados electrostáticamente. El bombardeo de compuestos orgánicos o bioquímicos por átomos rápidos normalmente produce cantidades significantes de iones moleculares (al igual que fragmentos) incluso para muestras de elevado peso molecular y térmicamente inestables.

IONIZACIÓN POR MALDI
Este método denominado MALDI-MS (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization-MassSpectrometry) permite detectar moléculas en un amplio rango de masas moleculares.
La muestra se mezcla con la matriz en exceso sobre una superficie de metal de tal forma que ambas cocristalizan cuando se evapora el solvente. Esta preparación es sometida a pulsos cortos de láser en alto vacío lo que provoca que la absorción de energía por parte de la matriz sea convertida en energía de excitación yen transferencia de H+ a la muestra (ionización) dando lugar, normalmente, a especies monocargadas. El área irradiada, de unas pocas micras, se calienta dando lugar a la desorción de los iones de fase sólida a fase gaseosa.
Fuentes de ionización química (CI = Chemical ionisation)
Los espectrómetros de masas más modernos están diseñados para poder intercambiar esta fuente con la de impacto deelectrones. En ionización química, las moléculas gaseosas de la muestra (tanto de un sistema discreto como de una sonda caliente) son ionizados por colisión con los iones producidos por el bombardeo con electrones de un exceso de un gas reactivo. Normalmente se utilizan iones positivos, pero la ionización química de iones negativos se utiliza ocasionalmente con analitos que contienen átomos muy...