Metrologia
Modulo No. 2 Conceptos y Definiciones
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n-1
n L = (S-V); n(S-V) = S ; S-V = S/n
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ACTIVIDAD. TOMA DE MEDICIONES
Realice las mediciones solicitadas yconsígnelas en el protocolo provisto en la Tabla 1.
medición provistos y a las condiciones en que se realiza la toma de datos
Nota: Preste atención a las características de los diversos instrumentos de
Considere el siguiente protocolo de medición (Tabla 2) de estos mismos ítems, realizado en el laboratorio de metrología de la Universidad del Valle, por uno de los técnicos de esta área.MetroCalidad © 2006
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TABLA 1 PROTOCOLO PARA MEDICIONES REALIZADAS SOBRE LOS ARREGLOS DE BLOQUES PATRON
BLOQUE INTRUM. A mm B mm C mm D mm E mm F Mm G mm H mm I mm J mm K mm Temp. ºC Humeda d %
M1 M2 P1 P2 D1 C.E
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TABLA 2
BLQ. INTRUM
A mm B mm C mm D mm E mm F Mm G mm H mm I mm J mm K mm Temp. ºC Hum. %
M1
3,462 3,462 3,462 3,461 3,464 3,463
3,480 3,4823,481 3,482 3,484 3,482 3,482 3,483 3,48 3,48 3,48 3,48 3,50 3,50 3,50 3,50 3,5 3,5 3,480 75 3,480 68 3,480 79 3,480 77
3,485 3,485 3,485 3,487 3,489 3,489
3,490 3,491 3,490 3,493 3,494 3,493
3,495 3,496 3,495 3,498 3,498 3,496 3,496 3,497 3,51 3,51 3,51 3,50 3,55 3,55 3,55 3,55 3,5 3,5 3,497 35 3,497 42 3,497 34 3,497 34
3,500 3,502 3,500 3,503 3,504 3,503
3,505 3,506 3,505 3,5073,508 3,508
3,510 3,511 3,510 3,512 3,514 3,512
3,516 3,517 3,516 3,517 3,518 3,517
3,520 3,521 3,520 3,523 3,524 3,522
3,540 3,542 3,540 3,543 3,544 3,545
20 ± 1
48 ± 4
M2
20 ± 1
48 ± 4
P1
3,46 3,47 3,47 3,46 3,50 3,50
3,49 3,49 3,49 3,49 3,50 3,50
3,50 3,50 3,50 3,50 3,50 3,50
3,51 3,51 3,51 3,52 3,55 3,55
3,51 3,51 3,51 3,52 3,55 3,55
3,51 3,523,52 3,53 3,55 3,55
3,52 3,52 3,52 3,53 3,55 3,55
3,53 3,53 3,53 3,53 3,55 3,55
3,55 3,55 3,55 3,55 3,60 3,60
20 ± 1
48 ± 4
P2 D1 C.E
20 ± 1
48 ± 4
3,5 3,5 3,459 89 3,459 90 3,459 90 3,459 89
3,5 3,5 3,485 55 3,485 53 3,485 53 3,485 55
3,5 3,5 3,490 85 3,490 83 3,490 73 3,490 74
3,5 3,5 3,501 84 3,501 79 3,501 72 3,501 69
3,5 3,5 3,505 44 3,505 36 3,505 34 3,50535
3,5 3,5 3,510 22 3,510 19 3,510 20 3,510 18
3,5 3,5 3,516 19 3,516 20 3,516 20 3,515 96
3,5 3,5 3,520 85 3,520 66 3,520 63 3,520 53
3,5 3,5 3,540 48 3,540 68 3,540 69 3,540 70
20 ± 1
48 ± 4
20 ± 1
48 ± 4
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Observaciones Tabla
Todas las medidas fueron realizadas por el técnico de laboratorio Jackson Jaramillo durante el día 10 de Junio de1999 en horas de la tarde. Los datos en esta tabla no tienen ninguna corrección.
Tanto M2, C.E. y P2 son instrumentos calibrados; para M1, P1 y D1 se desconoce su estado de calibración.
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Forme grupos de trabajo de 4 -5 personas y responda cada una de las siguientes preguntas utilizando como base las definiciones dadas en el material entregado. Designe a unapersona que pueda exponer las respuestas a los demás grupos. 1. Establezca cuál fue el SISTEMA DE MEDIDA [VIM 4.5] utilizado para efectuar las mediciones tomadas por ustedes. 2. Para el Pie de Rey de carátula su INDICE Y LONGITUD DE UNA DIVISION nos permite subdividir la LONGITUD DE UNA DIVISION del instrumento cuando apreciamos una lectura en quintos de la DIVISION DE ESCALA ¿Está usted de acuerdo?Explique. [VIM 4.16], [4.20], [4.21]
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3.
¿En Cuánto estima usted que vale el UMBRAL DE MOVILIDAD [VIM 5.11], de los instrumentos utilizados en las medidas? Micrómetro M1 ________ Micrómetro M2 ________ Pie de Rey P1 ________ Pie de Rey P2 ________ Pie de Rey D1 ________ Atendiendo a la definición de TRANSPARENCIA [VIM 5.15] establezca que características (en...
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