Microbiologia

TEM.- FUNDAMENTO
La Microscopía electrónica de transmisión se basa en un haz de electrones que manejado a través de lentes electromagnéticas se proyecta sobre una muestra muy delgada situada en una columna de alto vacÍo.
Los electrones del haz atraviesen la muestra
Los electrones choquen con un átomo de la muestra y terminen su viaje
INFORMACIÓN
* Se obtiene información estructuralespecífica de la muestra según las pérdidas específicas de los diferentes electrones del haz.
* El conjunto de electrones que atraviesan la muestra son proyectados sobre una pantalla fluorescente formando una imagen visible o sobre una placa fotográfica registrando una imagen latente.
* Se puede evaluar detalladamente las estructuras físicas y biológicas proporcionando unos 120.0000aumentos sobre la muestra.
Fundamentos:
* Las radiaciones electromagnéticas poseen una longitud de onda de propagación muy corta.
* Los electrones se desvían de su trayectoria recta de propagación cuando atraviesan un campo magnético circular.
* Al producirse un alto vacío los electrones se desprenden de la fuente luminosa formada por wolframio incandescente.
Fuente y flujo deelectrones
* La fuente es un cátodo constituido por un filamento de wolframio incandescente.
* Los electrones son térmicamente arrancados a baja velocidad.
* Los electrones son acelerados mediante la creación de un alto potencial (cilindro de Wehnelt), el cual permite una trayectoria rectilínea de los electrones de muy baja longitud de onda.
* Los electrones se desvían de su trayectoria alatravesar un acampo electromagnético (lente electromagnética).
* La desviación se acentúa al colocar varias lentes
Un haz muy desviado, muy abierto, se recoge en una pantalla fluoroscópica para poder ser visible al ojo humano.

Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)
LA FORMACIÓN DE LA IMAGEN
* En la microscopia SEM es formada mediante la focalización de una fina fuente deelectrones sobre la superficie de la muestra.
* La fuente de electrones barre la muestra en una serie de líneas y redes, construyéndose una imagen de la superficie en un monitor.
* Los electrones bombardean una pequeña área:
- Reflexión elástica sin pérdida de energía
- Absorbidos por la muestra y producir electrones secundarios de baja energía (+ rayos X)
- Absorbidos por la muestray producir luz visible
* La imagen se forma a partir de los electrones secundarios.
* Los electrones secundarios son atraídos hacia el portamuestras (reflectante) mediante un potencial positivo (50 volt). Al atravesar la muestra e incidir sobre el portamuestras se genera una luz que mediante un fotomultiplicador se convierte en una señal de voltaje, la cual se convierte en imagen.
*La magnificación de la imagen se produce al barrer un área muy pequeña.
Las imágenes SEM se pueden obtener sobre cualquier especie en masa (no han de ser muy finas como en TEM).

Microsonda Auger de barrido (SAM)
Esta microsonda posee un haz electrónico de barrido finamente enfocado como sonda
para el análisis AES de una superficie. En el caso de áreas superficiales, la técnica SAM
aportauna micrografía electrónica, una imagen Auger de los elementos seleccionados
que se presenta sobre la pantalla de un tubo catódico para su observación o fotografía, y
un perfil de la composición de profundidad. La forma de operación por imagen es muy
útil ya que permite definir las posiciones de los distintos elementos presentes en la
muestra en unos cuantos minutos.
En las mejorescondiciones, el poder de resolución espacial de la SAM es de 500 nm
cuando se utilizan emisores termoiónicos de tungsteno como fuentes electrónicas. El
uso de emisores de LaB6 extiende el poder de resolución a 100-200 nm gracias a su gran
brillantez óptica electrónica.

AFM
 
En la microscopía de fuerza atómica (AFM) una sonda puntiaguda extremadamente fina barre la superficie de la muestra...