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FACULTAD DE INGENIERIA

SISTEMAS DIGITALES MEDICIÓN PARÁMETROS DC Y AC COMPUERTAS TTL

Alumnos Profesor Guía

Rafael Mendoza Marco Casado Carrillo Rodrigo Arriagada

SANTIAGO DE CHILE NOVIEMBRE 2009

INDICE INTRODUCCION 1.1 Objetivos 1.2 Marco Teorico DESARROLLO EXPERIMENTAL 2.1 Cálculo de tabla de verdad NAND 2.2 Medición parámetros DC 2.3 Medición parámetros AC CONCLUSIONES 3.1Conclusiones teoricas APENDICE 4.1 Numero de serie de herramientas 4.2 Listado de materiales

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OBJETIVOS El objetivo de esta práctica es determinar experimentalmente los parámetros DC y AC de compuertas TTL, es decir niveles de voltaje aceptables junto con los tiempos, retardos y frecuencias de dichas señales. MARCO TEORICO Acrónimo inglés deTransistor-Transistor Logic o "Lógica Transistor a Transistor". Tecnología de construcción de circuitos electrónicos digitales, en los que los elementos de entrada de la red lógica son transistores, así como los elementos de salida del dispositivo. Es un dispositivo electrónico que es la expresión física de un operador booleano en la lógica de conmutación. Cada puerta lógica consiste en una red de dispositivosinterruptores que cumple las condiciones booleanas para el operador particular. Son esencialmente circuitos de conmutación integrados en un chip. En los circuitos digitales todos los voltajes, a excepción de las fuentes de alimentación, se agrupan en dos posibles categorías: voltajes altos y voltajes bajos. Todos los sistemas digitales se construyen utilizando básicamente tres compuertas lógicasbásicas, estas son las AND, OR y NOT; o la combinación de estas.

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DESARROLLO EXPERIMENTAL Cálculo de tabla de verdad NAND Para el cálculo de la tabla de verdad de la compuerta NAND se hará uso del 75HC00, el cual posee 4 puertas NAND de dos entradas. En el diagrama de funciones de la figura 1. se puede observar su configuración.

Figura 1. Este dispositivo se presenta en un encapsulado tipoDIP14, el cual es montado en un protoboard para facilitar el proceso de construcción del circuito mostrado en la figura 2.

Figura 2. En la figura 2 se puede apreciar que los niveles altos de la compuerta son generados al deja la entrada “al aire” y los niveles bajos son generados al conectar la entrada a tierra. Cabe

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notar que en la realización práctica prescindimos tanto de estosswitch como de dipswitch cableando directamente los niveles. la alimentación del 75HC00 no figura en el circuito, solo la conexión de la primera puerta NAND del componente. La configuración de conexión
de los LEDs fue del tipo sink.

Figura 3. En la figura 3 se puede apreciar la construcción física del circuito con el que se realiza la tabla de verdad cambiando los niveles (en altos y bajos) de laprimera puerta NAND del dispositivo. Finalmente con el circuito montado y funcional de deduce la siguiente tabla de verdad:

ENTRADA 1A (pin 1) Alto Alto Bajo Bajo 1B (pin 2) Alto Bajo Alto Bajo

SALIDA 1Y(pin 3) Bajo Alto Alto Alto

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Medición parámetros DC Para medir los parámetros DC máximos y mínimos en que la puerta lógica entrega valores altos o bajos, se cuenta con el 74HC04, cuyodiagrama de funciones se puede apreciar en la figura 4.

Figura 4A.

Figura 4B.

En el datasheet de este componente de entregan los valores nominales que pueden ser observados en la tabla de la figura 4B. El propósito de esta experiencia es el de comprobar experimentalmente estos valores y su cercanía con los valores entregados por el fabricante. Para esto contamos con el circuito que sepresenta en la figura 5. Contando con dos Multímetros Digitales para registrar los valores obtenidos.

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Figura 5. En la figuras 6A y 6B se puede apreciar el desarrollo de esta experiencia.

Los resultados críticos obtenidos por los dos multímetros en esta experiencia, pueden se pueden observar en la siguiente fabulación.

Estado Low-High High-Low

Entrada [V] 3.203 2.2

Salida [V]...