Norma oficial mexicana para muestreo

RECOPILADO POR: EL PROGRAMA UNIVERSITARIO DE ALIMENTOS

NMX-Z-12/1-1987. MUESTRO PARA LA INSPECCIÓN POR ATRIBUTOS. PARTE 1: INFORMACIÓN GENERAL Y APLICACIONES. SAMPLINGN POR INSPECTION BY ATRIBUTES. PART 1: GENERAL INFORMATION AND APPLICATIONS. NORMAS MEXICANAS. DIRECCIÓN GENERAL DE NORMAS. PREFACIO Debido a la existencia y utilización en México de diferentes procedimiento y tablas de muestropara la inspección por atributos destinado a la aceptación de lotes de materias primas, artículos y productos determinados, tales como: Dodge-Roming, Philips SSS, MIL STD- 10SD, los fines de la inspección de calidad podrían haber tenido una validez precaria y objetable, a consecuencia de la relativa incompatibilidad para poder compararlos entre si. Inclusive, la falta de unificación en laterminología de inspección provocaba dificultades de entendimiento entre inspectores e inspeccionados. Por tal motivo con base en un trabajo presentado por el Subcomité de Estadística perteneciente al Comité Consultivo de Normalización Básica, con sede en el Consejo Nacional de Ciencia y tecnología y tomando en cuenta las opiniones expresadas por el sector industrial tanto público como privado, laDirección General de Normas de la Secretaría de Industria y Comercio expidió en 1975, la Norma Oficial Mexicana DGN-R18 Muestreo para la inspección por atributos partes I,II,III,IV y V (actualmente NOM-Z12) para coadyuvar la mutuo entendimiento sobre criterios unificados en la inspección entre proveedores y compradores. La base estadística de esta norma es la misma adoptada por la Secretaría de la Defensade los Estados Unidos de Norteamérica, contenida en su Norma MIL-STD-105D misma que originó sucesivamente la adopción mundial de estos conceptos por parte de la Comisión Electrotecnia Internacional (IEC) y de la Organización Internacional de Normalización (ISO) en sus normas IEC (1973) e ISO 2859 (19749) respectivamente. Con la entrada de México al Acuerdo General sobre Aranceles Aduaneros yComercio, la comercialización de productos tendrán como base de operación las normas internacionales por lo que la Dirección General de Normas de la Secretaría de Comercio y Fomento Industrial ha revisado y actualizado el citado documento con el propósito de coadyuvar a implementar el mecanismo de certificación de productos conforme a norma facilitando con ello las actividades comerciales. Con elpropósito de homologar estos documentos con sus similares internacionales, la parte I de la edición 1975 ha sido cambiada para hacerla totalmente concordante con el texto de la norma ISO 2859 conservando las demás partes el mismo contenido. Para facilitar su manejo y aplicación, la nueva edición se ha reestructurado en 3 partes de acuerdo a lo siguiente: Edición 1975: Parte I, Parte IV Edición 1987:Parte 1

Edición 1975: Parte II, III, V

Edición 1987: Parte 2, 3

Cabe mencionar también de que este documento contiene la información, las definiciones y tablas de muestreo correspondientes a la Norma de la ISO y además proporcionan en la parte 3 la descripción y uso de la “Regla de Cálculo para los planes de muestreo por atributos”, que es un dispositivo que facilita la elaboración deplanes de muestreo. CONTENIDO

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OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN SECCION 1: INFORMACIÓN GENERAL SOBRE INSEPECCIÓN POR MUESTREO

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OBJETIVO DEL MÉTODO DE MUESTREO TIPOS DE INSPECCION POR MUESTREO UNIDAD DE PRODUCTO DEFECTOS Y DEFECTUOSOS MUESTREO SENCILLO CURVAS DE OPERACIÓN CARACTERISTICA CLASIFICACION DE DEFECTOS DEFECTOS CRITICOS SUSPENSION DELA INSPECCION DISPOSICION DE LOTES RECHAZADOS MUESTREO DOBLE MUESTREO MULTIPLE COMPARACION DE MUESTREO SENCILLO, DOBLE Y MULTIPLE EXTRACCION DE MUESTRAS PLANES Y ESQUEMAS CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA (CPS) Y SU LIMITE (LCPS) CALIDAD LIMITE PROMEDIO DEL PROCESO NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA) SECCION 2: USO DE LAS TABLAS

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DESCRICPCION DE LA NORMA NMX-Z-12/2...