Cracterización de Materiales

Instituto de Nivel Terciario de Educación Técnica y Formación Profesional
TECNOLOGIA DE LOS MATERIALES
Trabajo Practico Nº 3

Integrantes:

Año: 2014











Trabajo Practico N°3
Materia: TECNOLOGÍA DE MATERIALES
Actividad - CARACTERIZACION DE MATERIALES
Responder el siguiente cuestionario:

Nº 1: Concepto de Caracterización de Materiales.
Nº2: Mencionar loscomponentes de un instrumento típico de caracterización.
Nº 3: Qué es un transductor de entrada.
Nº 4: Mencionar las diferencias entre Procedimiento y Protocolo.
Nº5 : Clasificación de las técnicas de caracterización. Breve descripción de cada una.
Nº 6: Enumerar los parámetros de calidad para seleccionar una técnica.
Nº 7: Cuáles son los criterios de selección de una técnica o método decaracterización de materiales.
Nº 8: A qué se llama Sensibilidad de instrumento?
Nº 9: Definición de Error de instrumento.
Nº 10: De las técnicas mencionadas de caracterización de materiales, cuál considera la más versátil? Justificar la respuesta.












1) La caracterización de un material consiste en la obtención de información acerca de un material bajo estudio (composición,estructura, topología, topografía, morfología, propiedades en general) a partir de la interacción de una señal (eléctrica, luminosa, térmica, etc.) con una porción de dicho material.

2) Un instrumento de caracterización suele estar constituido como máximo por cuatro componentes fundamentales como se muestra en la Figura 1.1. Estos componentes son:

a) Un generador de señales; b) un transductor deentrada (denominado detector); c) un procesador de señal y d) un transductor de salida o dispositivo de lectura.

3) Un transductor de entrada es un dispositivo que convierte un tipo de energía (o señal) en otro, como por ejemplo una fotocélula, que convierte la luz en una corriente eléctrica.

4) Las diferencias entre las mismas son que los Procedimientos son instrucciones no detalladas encambio los Protocolos son estrictamente detallado.

a) Procedimiento.- Son las instrucciones (no detalle) escritas para llevar a cabo un
método (Normas ASTM, American Society for Testing and Materials, son
procedimientos normalizados)

b) Protocolo.- Es un procedimiento detallado (receta) ⇒ Resultados comparables
(Reproducibilidad)

5) Las técnicas de caracterización se basan en el estudiode la interacción existente entre la materia y distintos tipos de radiación, electrones o iones.
Descripción de cada una:

Perturbación
Respuesta
Técnica
Iones
Iones
Espectrometría de masas de iones secundarios (Secondary
Ion Mass Spectroscopy, SIMS)
Iones
Iones
Espectrometría de iones retrodispersados (Rutherford
Backscattering Spectrometry, RBS)
Iones
Fotones
Emisión de Rayos Xinducida por protones (Proton-Induced
X-Ray Emisión, PIXE)
Electrones
Electrones
Espectrometría de Electrones Auger (Auger Electrón
Spectrometry, AES)
Electrones
Electrones
Microscopía Electrónica Analítica (Analytical Electrón
Microscopy, AEM)
Electrones
Electrones
Microscopía Electrónica de Barrido (Scanning Electrón
Microscopy, SEM)
Electrones
Fotones
Microanálisis deRayos X (Electrón Probe Microanalyzer,
EPM)
Electrones
Fotones
Difracción de electrones de baja energía (Low-Energy
Electrón Diffraction, LEED)
Fotones
Electrones
Espectrometría fotoelectrónica de rayos X (X-Ray
Photoelectron Spectrometry, XPS y ESCA)
Fotones
Fotones
Difracción de rayos X (X-Ray Diffraction, XRD)
Fotones
Fotones
Fluorescencia de Rayos X (X-Ray Fluorescence,XRF)
Fotones
Fotones
Espectroscopia Infrarroja (Infrarred Spectrometry, IR)
Fotones
Fotones
Microscopía óptica (Optical Microscopy, OM)

6) enumeración de los parámetros de calidad para seleccionar una técnica:

Parámetro de calidad
1) Desviación estándar absoluta, desviación estándar relativa, coeficiente de variación, varianza.
2) Error absoluto sistemático, error relativo...