Drx Y Sem

Análisis de Difracción de rayos-X (DRX)
Esta técnica se basa en el hecho de que los espaciados atómicos en los cristales son del mismo orden de magnitud que las longitudes de onda de los rayos X(del orden de 1 Å) y entonces un cristal actúa como rejilla de difracción tridimensional ante un haz de rayos X, el patrón de difracción resultante se puede interpretar para conocer de manera muyprecisa, las posiciones internas de los átomos en el cristal.
Las características esenciales de un difractómetro de rayos-X se muestran en la Figura 4, una muestra C en la forma de un plato plano essoportado sobre una mesa H, la cual puede ser rotada alrededor de un eje O perpendicular al plano del trazo. La fuente de rayos-X es S, el punto de línea focal sobre el objetivo T del tubo de rayos-X, Ses también normal al plano del trazado y por lo tanto paralelo al eje del difractómetro O.
Los rayos-X divergen de esta fuente y se difractan por la muestra para formar un rayo difractadoconvergente, el cual conduce a un foco en la abertura F, antes de entrar al detector G, en este arreglo es necesario hacer pasar el haz de rayos-X a través de las aberturas especiales A y B que coliman los rayosincidente y difractado.
El monocromador o filtro sirve para eliminar la radiación Kβ y la radiación de fondo originada por la muestra misma. La abertura que recibe F y el detector están sujetos enel soporte E el cual puede ser rotado alrededor del eje O y cuya posición angular 2θ puede ser leída sobre la escala graduada K.
Los soportes E y H son mecánicamente acoplados de tal manera que unarotación del detector a través de 2x grados es automáticamente acompañado por rotación de la muestra a través de x grados.

Figura 1 Difractometro de Rayos X
El diagrama de difracción de unmaterial es diferente para cada compuesto químico dependiendo del arreglo de sus planos atómicos. Así, para identificar un compuesto, la lista de distancias reticulares se comparan con las tarjetas...