Espectrometro de fluorescencia
Páginas: 3 (667 palabras)
Publicado: 22 de agosto de 2013
Espectrómetro de fluorescencia
La fluorescencia de rayos X permite medir hasta 84 elementos de la tabla periódica en muestras de diversas formas y naturalezas: Sólidas o liquidas, conductoraso no conductoras. Las muestras típicas incluyen cristales, plásticos, aceites, todos los metales, minerales, materiales refractarios, cementos y materiales geológicos. Todas las muestras no debenreaccionar con los rayos X. Las muestras sólidas se deben someter al análisis en condiciones de vació; las muestras liquidas se analizan en un entorno de helio. Algunas de las ventajas de la XRF sobreotras técnicas son la velocidad de análisis, la generalmente fácil preparación de las muestras, una estabilidad y una precisión muy buenas y un amplio rango dinámico.
El espectrómetro de fluorescenciaque nosotros vimos es el ARL 9900 que permite realizar medidas de alto rendimiento en todo tipo de muestras. El núcleo del sistema consta de varios módulos: Monocromadores para realizar analisisrutinarios dedicados rapidos, un goniometro Universal o Smart de franjas de Moiré para flexibilizar los analisis elementales y un sistema de difracción de rayos X integrado para llevar a cabo el analisisde fases especificas y de minerales. La combinación de canales fijos y goniometro garantiza la relacion de analisis rapidos, flexibles y fiables.
Hay solo tres versiones de este tipo deespectrómetros que se comercializan:
ARL 9900 OASIS: version de potencia media, con un generador de 1,2 kW, sin refrigeración externa por agua.
ARL 9900 XP: version estandar, con un generador de 3,6 kW.
ARL9900 XP+: version de alto rendimiento, con un generador de 4,2 kW.
Estos aparatos funcionan con el principio de fluorescencia de rayos X. Este consta de excitar la muestra por el haz de rayo Xproveniente del tubo de rayos X. Esta excitación que se le realiza a la muestra, produce que en los atomos, un electrón deje el lugar de su orbita, el lugar que dejo este electrón lo pasa a ocupar un foton...
La fluorescencia de rayos X permite medir hasta 84 elementos de la tabla periódica en muestras de diversas formas y naturalezas: Sólidas o liquidas, conductoraso no conductoras. Las muestras típicas incluyen cristales, plásticos, aceites, todos los metales, minerales, materiales refractarios, cementos y materiales geológicos. Todas las muestras no debenreaccionar con los rayos X. Las muestras sólidas se deben someter al análisis en condiciones de vació; las muestras liquidas se analizan en un entorno de helio. Algunas de las ventajas de la XRF sobreotras técnicas son la velocidad de análisis, la generalmente fácil preparación de las muestras, una estabilidad y una precisión muy buenas y un amplio rango dinámico.
El espectrómetro de fluorescenciaque nosotros vimos es el ARL 9900 que permite realizar medidas de alto rendimiento en todo tipo de muestras. El núcleo del sistema consta de varios módulos: Monocromadores para realizar analisisrutinarios dedicados rapidos, un goniometro Universal o Smart de franjas de Moiré para flexibilizar los analisis elementales y un sistema de difracción de rayos X integrado para llevar a cabo el analisisde fases especificas y de minerales. La combinación de canales fijos y goniometro garantiza la relacion de analisis rapidos, flexibles y fiables.
Hay solo tres versiones de este tipo deespectrómetros que se comercializan:
ARL 9900 OASIS: version de potencia media, con un generador de 1,2 kW, sin refrigeración externa por agua.
ARL 9900 XP: version estandar, con un generador de 3,6 kW.
ARL9900 XP+: version de alto rendimiento, con un generador de 4,2 kW.
Estos aparatos funcionan con el principio de fluorescencia de rayos X. Este consta de excitar la muestra por el haz de rayo Xproveniente del tubo de rayos X. Esta excitación que se le realiza a la muestra, produce que en los atomos, un electrón deje el lugar de su orbita, el lugar que dejo este electrón lo pasa a ocupar un foton...
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