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Páginas: 2 (374 palabras)
Publicado: 30 de septiembre de 2011
TENICAS DE ANALISIS DE ESFUERZOS
DIFRACCION DE RAYOS X
La difracción de rayos X es una técnica muy versátil, no es destructiva y mide los esfuerzos macro y micro.
La medición se realizacolocando la muestra en el difractometro, exponiéndola a rayos X que interactúan con la red cristalina para generar un patrón de difracción. Los rayos X son producidos cuando partículas eléctricamentecargadas, tales como electrones, con suficiente energía cinética son rápidamente desacelerados. Cuando un rayo X alcanza la superficie de un cristal a cualquier ángulo θ, una porción es dispersadapor la capa de átomos de la superficie.
La porción no dispersada penetra en la segunda capa de átomos donde otra vez una fracción es dispersada y la que queda pasa a la tercera capa. El efectoacumulativo de esta dispersión desde los centros regularmente espaciados del cristal es la difracción del haz.
Los requisitos para la difracción de rayos x son.:
a) que el espaciado entre capas deátomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiación y
b) que los centros de dispersión estén distribuidos en el espacio de una manera muy regular .
Los rayos X son laradiación electromagnética, invisible, capaz de atravesar cuerpos opacos. Su longitud de onda se encuentra entre los 10 a 10.1 nanómetros (nm), correspondiendo a frecuencias del rango de 30-30 PHz. Losrayos X surgen de fenómenos extra nucleares, a nivel de la órbita electrónica, principalmente producidos por desaceleraciones de electrones.
Cristalografía de Rayos X
Es una técnica que utilizaun haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias direcciones debido a la simetría y agrupación de los átomos y, por difracción, da lugar aun patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos de los cristales, aplicando la ley de Bragg.
Métodos de difracción de Rayos X
Cuando el haz de rayos X...
DIFRACCION DE RAYOS X
La difracción de rayos X es una técnica muy versátil, no es destructiva y mide los esfuerzos macro y micro.
La medición se realizacolocando la muestra en el difractometro, exponiéndola a rayos X que interactúan con la red cristalina para generar un patrón de difracción. Los rayos X son producidos cuando partículas eléctricamentecargadas, tales como electrones, con suficiente energía cinética son rápidamente desacelerados. Cuando un rayo X alcanza la superficie de un cristal a cualquier ángulo θ, una porción es dispersadapor la capa de átomos de la superficie.
La porción no dispersada penetra en la segunda capa de átomos donde otra vez una fracción es dispersada y la que queda pasa a la tercera capa. El efectoacumulativo de esta dispersión desde los centros regularmente espaciados del cristal es la difracción del haz.
Los requisitos para la difracción de rayos x son.:
a) que el espaciado entre capas deátomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiación y
b) que los centros de dispersión estén distribuidos en el espacio de una manera muy regular .
Los rayos X son laradiación electromagnética, invisible, capaz de atravesar cuerpos opacos. Su longitud de onda se encuentra entre los 10 a 10.1 nanómetros (nm), correspondiendo a frecuencias del rango de 30-30 PHz. Losrayos X surgen de fenómenos extra nucleares, a nivel de la órbita electrónica, principalmente producidos por desaceleraciones de electrones.
Cristalografía de Rayos X
Es una técnica que utilizaun haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias direcciones debido a la simetría y agrupación de los átomos y, por difracción, da lugar aun patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos de los cristales, aplicando la ley de Bragg.
Métodos de difracción de Rayos X
Cuando el haz de rayos X...
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