Microscopía En Medicina Forense

Innovaciones en microscopía electrónica para preservar la integridad de la muestra y validez en análisis forense

Microscopios de barrido (SEM) proporcionan a investigadores forenses imágenes críticas y capacidades analíticas que no están disponibles en otras técnicas. En particular, pueden resolver características tan pequeñas como un nanómetro, permitiendo aumentos útiles de 100.000 veces omás.

Incluso con aumentos muy altas, microscopios de barrido tiene gran profundidad de campo, lo que les permite capturar imágenes concretas de objetos tridimensionales complejas. Junto con microanálisis de rayos x, pueden determinar la composición elemental de las muestras tan pequeñas como unos pocos micrómetros o mapa de la distribución de elementos en muestras más grandes con resoluciónespacial de micrómetro. Son ampliamente utilizados para el análisis de residuos de disparo; investigaciones de la marca de herramienta; análisis de tinta y papel; pintura, el pelo y la coincidencia de la fibra; y la identificación de otras pruebas de seguimiento, tales como polen y diatomeas, que se pueden vincular a un sospechoso a una escena del crimen.

IMÁGENES DE SEM
A diferencia de losmicroscopios ópticos, que forman una imagen real de la luz transmitida o reflejada, un microscopio electrónico se forma una imagen virtual en una pantalla electrónica. Un rayo finamente enfocado de electrones explora la superficie de la muestra en un patrón de trama y el brillo de cada punto de la imagen visualizada representa la fuerza de la señal con imagen generada en el punto correspondiente de lamuestra cuando se está iluminado por el rayo.

Las señales de imagen son creadas por las interacciones entre el haz de electrones y átomos de la muestra como el rayo penetra en la muestra. La profundidad de penetración está determinada por el voltaje de aceleración de la viga y la densidad de la muestra y oscila entre unos pocos nanómetros a unos pocos micrómetros. SEM es generalmenteconsiderado como una técnica de imágenes de superficie. Diferentes interacciones producen señales, cada una con características diferentes. Las señales más comunes incluyen: electrones secundarios (SE), utilizados principalmente para la alta resolución y alto contraste topográfico; electrones reflejadas (EEB), utilizados para material contraste (número atómico); y rayos x característicos, utilizado paradeterminar la composición y distribución de elemental.

REQUISITOS DE LA MUESTRA
En general, la muestra debe estar limpio, seco, no volátil y conductoras. La muestra debe tolerar alto vacío y no interferir con el funcionamiento del sistema de vacío. Debido al bombardeo de electrones, la carga se acumulará en la superficie de la muestra. Si la muestra es conductora, corriente que fluye desde laetapa de tierra muestra neutraliza la carga. Muestras no conductoras a menudo están recubiertas con un material conductor para proporcionar una trayectoria a tierra. Preparación de la muestra de mayoría SEM se centra en estos requisitos y muestras que reunirse con ellos en su estado nativo generalmente pueden introducirse directamente en la cámara de muestras.

INTEGRIDAD DE LA MUESTRA
Doscuestiones son especialmente importantes para las aplicaciones forenses de SEM: preservación de la integridad de la muestra y valor probatorio y validación de los resultados de imagen y analíticos. Preservar el valor de la muestra como evidencia requiere que no sea modificado por el examen por lo que puede ser reexaminada en sus condiciones originales, por otra parte, o en otro momento. En este contexto,un tipo especializado de SEM con requisitos de vacío muy relajados puede ser muy valioso como ambiental (ESEM) y bajo vacío (LVSEM). Aunque los detalles de sus mecanismos operacionales difieren, se relajen los requisitos de la muestra hasta cierto punto, lo ideal sería suficiente para permitir el examen sin ninguna preparación que alteraría la muestra.

VALIDACIÓN
Validación se refiere a la...