Microscopio electrónico de barrido

Páginas: 17 (4148 palabras) Publicado: 17 de noviembre de 2010
El presente informe detalla los conocimientos obtenidos durante la visita al laboratorio de microscopia electrónica y lo recopilado de diferentes fuentes consultadas.

El microscopio electrónico de barrido (MEB) es un instrumento para obtener fotografías tridimensionales debido a que tiene una alta resolución y una gran profundidad de campo. En las fotografías se puede apreciar laultraestructura de muestras microscópicas detallando de manera extraordinaria, sus características morfológicas y topográficas.
También se puede observar cualquier tipo de espécimen o de materiales orgánicos (crustáceos, plantas, parásitos, hongos, invertebrados, plancton, protozoarios, bacterias, tejidos, músculo, células, neuronas, cabello y pelo) y materiales inorgánicos (industria petroquímica,biodeterioro de obras y artes, pintura, papel, enlatados, balística, material geológico, material de electrónica y computación, metales, aleaciones, plásticos, vidrios, etc;).
Un instrumento que se ha desarrollado para el análisis de muestras a través del microscopio electrónico de barrido es el analizador EDS (espectrómetro de dispersión de energía) de rayos X el cual identifica la distribucióncuantitativa y cualitativa de elementos químicos que se encuentran presentes en la muestra, mostrando gráficas e imágenes relacionadas con esa distribución. Es pertinente señalar que el analizador EDS de rayos x identifica y evalúa el contenido de elementos químicos desde el carbono al uranio en superficies planas o secciones finas de las muestras en todo tipo de material (biológico e inerte).
Además dela obtención de un espectro químico en un punto concreto de la muestra, existen dos formas gráficas de obtener información de la señal de rayos X: a) los perfiles de línea que permiten identificar gráficamente la variación de la concentración de uno o varios elementos entre dos puntos; y b) los mapas de RX que sirven para ver gráficamente la distribución de los elementos en la zona seleccionada,asignando un color diferente a cada uno.
Los mapas de RX también ofrecen imágenes semicuantitativas de la concentración de los elementos mediante la densidad de puntos de un determinado color en la zona.

Objetivo de la visita al laboratorio:
Darnos a conocer la importancia y aplicaciones del MEB y el analizador EDS de Rx en el análisis de las propiedades macroscópicas y microscópicas decualquier tipo de material; haciendo hincapié en la trascendencia del mismo para la metalurgia en general.

Técnica de preparación de la muestra:
En general, la preparación de las muestras es sencilla y los requisitos que deben cumplirse son:
➢ fijación,
➢ deshidratación y
➢ secado
además , la superficie debe ser conductora de la corriente eléctrica. Este último requisito se cumpleen los metales pero no en las muestras biológicas, por lo que éstas se recubren con una capa de carbón o de oro, según las condiciones en las que se trabaje la muestra y el objetivo del estudio, es decir, para ser analizadas por EDS o para ser vistas al microscopio. Antes de tratar las muestras se debe tomar en cuenta el material a ser observado y guiarse por los parámetros específicos para cadamuestra. En el caso del laboratorio de la universidad el recubrimiento de las muestras no conductoras se hace con una película de oro, con un costo aproximado de 15 dólares.

Microscopio Electrónico de Barrido ( MEB)

La emisión secundaria se utiliza en la construcción de la imagen en el MEB, el cual a diferencia de los MET, posee un haz móvil de electrones que “barre” o recorre el espécimen enáreas seleccionadas.
La microscopia electrónica de barrido, en sus diversas modalidades, surge en forma experimental entre los años 1930 y 1940, en Alemania. En 1935, Knoll propone un instrumento bastante similar a los actuales, destinado a estudiar fenómenos de emisión secundaria. En 1938, Von Ardenne diseña un nuevo tipo de microscopio, con el objeto de estudiar muestras relativamente...
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