NTC ISO 2859 5

LEIDY CHAPARRO SÁNCHEZ
ANDREA PAOLA CUTA CUTA

PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIÓN POR
ATRIBUTOS.

PARTE 5: Sistema de planes de
muestreo secuencial determinados
por nivel aceptable decalidad (NAC)
para inspección lote por lote

Esta quinta parte de la norma NTC ISO 2859 especifica programas de muestreo
secuencial.

Esta quinta parte de la norma NTC-ISO 2859 especifica
programas demuestreo secuencial que complementan
el sistema de muestreo para aceptación para inspección
por atributos de la norma NTC-ISO 2859-1

La ventaja principal de lo
planes de muestreo
secuencial es lareducción
en el numero de muestras.

Al igual que los planes de
muestreo doble y múltiple, el
uso de planes de muestreo
secuencial conduce al numero
mas bajo de muestras posibles
que los planes de muestreosimple.

Campo de aplicación
Los programas de muestreo definidos en esta parte de la norma NTC-ISO
2859 son aplicables, entre otros, a la inspección de:
oElementos finales

oComponente y materiasprimas
oOperaciones
oMateriales en proceso
oSuministros almacenados

oOperaciones de mantenimiento
oDatos, registros
oProcedimientos administrativos.

Inspección por atributos
Consiste en determinar lapresencia o la ausencia de una o
mas características particulares en cada uno de los
elementos en el grupo que se considera, y encontrar
cuantos elementos poseen o no las características.

Inspecciónreducida
Se cambia cuando los resultados de la inspección de un
numero predeterminado de lotes indican que el nivel de
calidad logrado por un proceso es superior al especificado.

Inspección normal
Seusa cuando no hay razón para considerar que el nivel de calidad
logrado por el proceso es diferente de un nivel especificado.

Inspección estricta
La cual se cambia cuando los resultados de lainspección de un
numero predeterminado de lotes indica que el nivel de calidad
logrado por un proceso es inferior al especificado.

Porcentaje no conforme
En una muestra 100 veces el numero de elementos...