Trazador de curvas

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LTC-905
TRASADOR DE CURVA.
TABLA DE CONTENIDOS.

Pagina.
1. DESCRIPCION………………………………………………………………1
2. ESPESIFICACIONES………………………………………………………..1
3. CONTROLES Y CONECTORES……………………………………………1
4. OPERACIÓN.

1. notas preliminares……………………………………………………..32. preparación…………………………………………………………….5
3. medición de transistor……………………………………...………….5
1. NPN, nivel bajo……………………………………………5
2. NPN, tipo de poder…………………………………………6
3. PNP, bajo nivel…………………………………………….6
4. PNP, tipo de poder…………………………………………6
5. Medición de hFE…………………………………………...7
4.medición de FET’s……………………………………………………..8
1. N-canal FET, y N-canal MOS FET………………………..8
2. P-canal FET, y P-canal MOS FET…………………………8
3. Conductancia mutua, gm, medición………………………..8
4. Mejora tipo medición FET …………………………………9
5. Medición diodo.
1. condición de prueba estándar……………………………….92. Propósito general: rectificador de poder, detectores………..10
3. Diodos Zener……………………………………………….10
4. Diodos Tunnel………………………………………………10
5. Medicion de diodos cuantitativo…………………………….10
6. SCR (tiristor)Mediciones……………………………………………….11
7. UJT (Uní junción) Mediciones…………………………………………11

5. Mediciones con Bias externas1. General…………………………………………………………………12
2. Mediciones de transistores…………………………………………….12
5.2.1 Bias suministro……………………………………………….12
5.2.2 Mediciones hFE………………………………………….…..12
5.2.3 Mediciones de I CEO………………………………………..13
5.3 Mediciones FET………………………………………………………..13
5.3.1 suministro de Bias…………………………………………..13
5.3.2 gm Mediciones………………………………………………14
5.3.3 Pizca fueravoltaje, Vp, Mediciones………………………..14
5.3.4 Fuga de corriente, I DSS, medición…………………………15
6. Circuito de pruebas…………………………………………………………….15
6.1 General…………………………………………………………………15
6.1.1 aplicación……………………………………………………15
6.1.2 Uso de circuito de sonda, LP-11…………………………….15
6.2 Pantalla de Transistor defectuoso, FET…………………………………16
6.3 Notas en Circuito de pruebas……………………………………………176. Mantenimiento………………………………………………………………..18

1. Descripción.

Curva de la localización en un ámbito de aplicación se hace fácil con el LTC-905. Curvas características de todos los tipos de semiconductores pueden ser visualizados correctamente. Este es mucho ohmiómetro a los controles convencionales de calidad. En circuito de prueba es posible para un rápido control.
Seofrecen dos entradas para poner a prueba los siguientes:
1. transistores – NPN; PNP; FET y MOS FET.
2. SCR’s y Triacs.
3. Diodos- Rectificadores, detectores, zener y túnel.

2. Especificaciones.

Frecuencia 120Hz.- o 100Hz (2x Frecuencia).
Voltaje paso 8: 10,20, 30,40,50,60,80 y 100v.
Barrido de forma de onda. Completa rectificado.
Limites actuales. 1000 ohm por nivel bajo transistores.
100ohm por transistor de poder.

Generador de paso
Numero de pasos 7.
Actual por elpaso 10, 20,50uA;
0.1, 0.2, 0.5, 1,2 mA

Bias externas Pantalla de una sola curva.
Fuente de alimentación 100, 120, 200, 220, o 240V
50/60Hz; 25Va máximo.
Tamaño y peso...
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