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05/06/2012

ESTRUCTURA
Difracción de rayos X
Determinación de estructura cristalina
Espectroscopia FT-IR

Obtener información acerca la
estructura cristalina de un material,
(fases y compuestos)

γ,α, Al2O3, Fe3C
Cualitativa

Cuantitativa

%Fe, %C, %Al

Rayos X

Espectroscopía Raman
Determinación de fases y/o compuestos

Son una forma de radiación electromagnética
de elevada energía y pequeñalongitud de onda;
del orden de los espacios interatómicos de los
sólidos.

Å

Cu o Mo
Generador
de alta
tensión
(50.000 V)

Tomado de: http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/

Esquema del tuboconvencional de rayos X

Tubos convencionales de rayos- X
para laboratorios de cristalografía

Rayos X que interesan en cristalografía: λ próxima a 1 Å y energía 12.4 KeV

Tomado de:http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/

Ocurre difracción cuando una onda encuentra una serie de obstáculos,
separados regularmente, que son capaces de dispersar la onda.

Continúan en fase, se refuerzan,
se sumansus amplitudes.
Fenómeno de difracción
Un electrón de alta energía puede producir la
salida de un electrón cercano al núcleo. La
vacante así producida se rellena por el salto de
otro electrón de unacapa superior, con mayor
energía. Esa diferencia de energía entre niveles
(característica del átomo) se transforma en
radiación X característica, con una longitud de
onda (energía) determinada.

Ondasdispersadas no están en
fase, no conducen al
reforzamiento mutuo, se anulan

Tomado de: http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/

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Difractómetro de rayos x

Difractograma

Detectorλ
Fuente de
rayos X

2θ
dhkl

Planos de átomos paralelos
Índices de Miller (hkl)

Las muestras pueden ser:
• Polvo fino policristalino.
• Material policristalino compacto
(soportado láminas delgadas).
•Material policristalino con
forma irregular.

Muestra
Equipo para determinar los ángulos en que ocurre la
difracción

Ley de Bragg

λ=2—dhkl—senθ

No existen dos sustancias cristalinas que tengan...