Estadística

1. El tiempo hasta una falla en horas de un componente electrónico sometido a una prueba de vida acelerada se muestra abajo. Para acelerar la prueba de falla, las unidades se probaron a unatemperatura elevada como siguen:

|127 |124 |121 |118 |
|125 |123 |136 |131 |
|131 |120 |140 |125 |
|124|119 |137 |133 |
|129 |128 |125 |141 |
|121 |133 |124 |125 |
|142 |137 |128 |140|
|151 |124 |129 |131 |
|160 |142 |130 |129 |
|125 |123 |122 |126 |


Elaborar un resumencon carta X-R del proceso





















































1. Los datos que se presentan abajo son las lecturas delrendimiento de un proceso químico en días consecutivos. Construir un histograma para estos datos, encontrar la moda, media y mediana, y determinar el comportamiento del proceso.

|94.1|87.3 |94.1 |92.4 |84.6 |85.4 |
|93.2 |84.1 |92.1 |90.6 |83.6|86.6 |
|90.6 |90.1 |96.4 |89.1 |85.4 |91.7 |
|91.6 |95.2|88.2 |88.8 |89.7 |87.5 |
|88.2 |86.1 |86.4 |86.4 |87.6|84.2 |
|86.1 |94.3 |85.0 |85.1 |85.1 |85.1 |
|95.1 |93.2 |84.9...