Indice de miller

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INSTITUTO TECNOLOGICO DE SALTILLO

Las posibles reacciones del índice de Miller en la determinación
De densidad, planar , anitrosopia y isotropia











30 de agosto del 2012INTRODUCCION
El descubrimiento de la naturaleza ondulatoria de los rayos X, marco el comienzo del análisis de estructuras cristalinas mediante su difracción. Los pioneros en dicha técnica, W. L. Braggy su padre, W. Bragg, proporcionaron la fundamentación que en este trabajo utilizaremos, en conjunto con difractogramas de rayos X de cristales de GaP y Cu y sus correspondientes parámetros de red,pará obtener los índices de Miller de diversos planos atómicos en esos cristales. Los resultados obtenidos, concuerdan con la estructura cúbica hexo-octa´edrica y cúbica centrada en las caras que,respectivamente, poseen los cristales.




DESARROLLO
La orientación de una superficie de un cristal plano se puede definir considerando como el plano corta a los ejes cristalográficos principalesdel sólido. La aplicación de un conjunto de reglas conduce a la asignación de los índices de Miller (hkl); un conjunto de números que cuantifican los cortes y que sólo puede usarse para identificar unplano o una superficie.
El siguiente procedimiento que permite asignar índices de Miller está simplificado y sólo sirve para el sistema cúbico (con celda unitaria de dimensiones a x a x a ).Para ilustrar el procedimiento, consideremos la siguiente superficie /plano:


Una familia de planos atómicos paralelos queda definido por el vector normal de uno de ellos. El más utilizado,es el vector (h, k, l) escrito en la base de vectores que forman la celda unidad, correspondiente a los índices de Miller (h k l).
Estos ´últimos están definidos de forma tal que h, k y l sonenteros, y se calculan fácilmente debido a que corresponden a la cantidad de planos de la familia que cortan, dentro de la celda unitaria, al eje x, al y y al z respectivamente.
El plano π de esa...
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