Probador de transistores, diodos y scr en circuito
Funcionamiento delCircuito Las compuertas ICa e ICb del IC CMOS CD4093 forman un oscilador de onda cuadrada de aproximadamente 2Hz. IC1c e IC1b invierten la polaridad de esos 2Hz. Esos dos voltajes de onda cuadrada,complementarios, son aplicados al D.E.P. (Dispositivo En Prueba). Para transistores la polarización de base se realiza a través de una resistencia de 1000 ohm. Dos LEDs rojos en contra fase quedanconectados al Colector. El flujo de corriente a través del dispositivo está limitado por la resistencia R4 de 470 Ohm. Sin D.E.P. conectado al probador, al oprimir el pulsador TEST, ambos LEDs encenderánalternadamente. Por consiguiente, es evidente que si el D.E.P. está: En Corto, ambos LEDs permanecerán apagados y Abierto, ambos LEDs encenderán.
El propósito de los dos grupos de diodos, conectadosen serie con el D.E.P. pueden requerir una explicación: Su función es permitir que el D.E.P. alcance la saturación (conducción total) en un solo sentido, y evitar que ambos LED permanezcan apagadoscuando eso ocurre. Recuerde este diseño prueba "en-circuito" (no necesita desoldar ninguna conexión, para aislar un semiconductor sospechoso! ). Para probar SCRs (tiristores) y diodos, se coloca S1 enla posición apropiada (D/SCT), en la cuál se elimina uno de los dos diodos de cada serie. Esto es necesario porque: la caída de voltaje en sentido directo de un diodo o SCR en buen estado, esaproximadamente 0.7 Voltio, entonces tres junturas en serie presentarían aproximadamente 2.1V, por lo cual ambos LED podrían encender Lista de partes: R1 - resistencia 1 Mohm (1.000.000 ohm) R2 - resistencia...
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