Tec.avanzadas de calidad formulas

TECNICAS AVANZADAS DE CALIDAD

UNIDAD IV

Formulas y Tablas: Funciones, Weibull y Conf. de los sistemas

Cp = ES –EI 6σ

Límites reales o naturales = μ +/- 3 σ

Rendimiento de primera vezde un proceso

Cpks = Es – μ σ

YFT = (1 – dpmo / 10 6 ) n

dpu = Cpki = μ - Ei σ De donde:

d/U

d = No. de defectos

K= 1/2

μ-N
(ES-EI)

U = No. De unidades inspeccionadas
X 100dpo =
Zs = Es – μ σ Zi = μ - Ei σ De donde:

d/UxO

O = No. De oportunidades de error por unidad

VALOR DEL INDICE (CORTO PLAZO)

PROCESO CON DOBLE ESPEIFICACIÓN (INDICE Cp)

CONREFERENCIA A UNA SOLA ESPECIFICACION (Cpi, Cps, Cpk)

% FUERA DE LAS 2 ESPECIFICACIONES

PARTES POR MILLON FUERA (PPM)
548 506.130 368 120.183 230 139.463 133 614.458

% FUERA DE UNA SOLAESPECIFICACIÓN
27.4253% 18.4060% 11.5070% 6.6807%

PARTES OR MILLON FUERA (PPM)
274 253.065 184 060.092 115 069.732 66 807.229

0.2 0.3 0.4 0.5

54.8506% 36.8120% 23.0139% 13.3614%

0.6
0.7 0.8 0.9 11.1 1.2 1.3 1.4 1.5

7.1861%
3.5729% 1.6395% 0.6934% 0.2700% 0.0967% 0.0318% 0.0096% 0.0027% 0.0007%

71 860.531
35 728.715 16 395.058 6 934.046 2 699.934 966.965 318.291 96.231 26.708 6.8023.5930%
1.7864% 0.8198% 0.3467% 0.1350% 0.0483% 0.0159% 0.0048% 0.0013% 0.0003%

35 930.266
17 864.357 8 197.529 3 467.023 1 349.967 483.483 159.146 48.116 13.354 3.401

1.6
1.7 1.8 1.9 20.0002%
0.0000% 0.0000% 0.0000% 0.0000%

1.589
0.340 0.067 0.012 0.002

0.0001%
0.0000% 0.0000% 0.0000% 0.0000%

0.794
0.17 0.033 0.006 0.001

Valor del cp
Cp>= 2

Clase del procesoClase mundial

Decisión
Se tiene calidad 6 sigma

Cp < 1.33
1< Cp < 1.33

1
2

Adecuado
Parcialmente adecuado pero conforme el Cp se acerca a uno se generan mas defectos No adecuado. Unanálisis del proceso es necesario. Requiere modificaciones muy serias

0.67 < Cp < 1

3

Cp < 0.67

4

Totalmente inadecuado. Requiere de modificaciones muy serias

Rendimiento
6,68 8,455...