Cartas c y u

Laboratorio de Control de Calidad

07

GRÁFICAS C Y U

Lizeth Gómez María Angélica González Yulid Ruiz

TABLA DE CONTENIDO
TABLA DE CONTENIDO 2
ABSTRACT 3
DESCRIPCIÓN DE LA PRÁCTICA 4
MATERIAL UTILIZADO 4
PROCEDIMIENTO 4
CUESTIONARIO 9
CONCLUSIONES11

ABSTRACT
The C chart is a data analysis technique for determining if a measurement process has gone out of statistical control. This control chart is sensitive to changes in the number of defective item in the measurement process. The “C” stands for “counts” as in defectives per lot.
The U chart is used for the same purposes, except that it is sensitive to changes in the normalized number ofdefective items in the measurement process. Normalized means that number of defectives is divided by the unit area. The “U” stands for the “units” as in defectives per lot.

DESCRIPCIÓN DE LA PRÁCTICA
El objetivo de esta práctica consiste en la familiarización del grupo de trabajo con los parámetros y estimadores propios del Control de Calidad.

Con esta experiencia se persigue observar el efectoque produce el aumentar o disminuir el tamaño de muestra en las cartas de control U y el análisis de las cartas de control C y U.

Estas cartas de control de atributos se usan para controlar y analizar un proceso cuando la calidad se mide contando el número de defectos de un artículo. Entre los ejemplos se incluyen rayones, manchas, defectos en el color, entre otros. Una carta C, referida al númerode defectos, se usa para un producto cuyas dimensiones son uniformes, mientras que una carta U se usa para un producto de dimensión variable.
MATERIAL UTILIZADO
* Población de ojos plásticos para muñecas. Los defectos encontrados en las muestras son enumerados a continuación:

1. Decolorado
2. Partido
3. Quemado
4. Pintado
PROCEDIMIENTO
Carta C
Para el desarrollo de esta parte delexperimento, fue necesario tomar 25 muestras de tamaño 1 y registrar los datos en la tabla No. 1. Para cada una de estas muestras se anotó el número de defectos. Con estos datos se procedió a diseñar una carta para el posterior análisis.
Los datos obtenidos fueron registrados en la siguiente tabla:
  | No. de muestra | Conteo de no conformidades c |
  | 1 | 3 |
  | 2 | 3 |
  | 3 | 0 |
  | 4| 0 |
  | 5 | 1 |
  | 6 | 3 |
  | 7 | 0 |
  | 8 | 0 |
  | 9 | 3 |
  | 10 | 2 |
  | 11 | 2 |
  | 12 | 3 |
  | 13 | 3 |
  | 14 | 1 |
  | 15 | 0 |
  | 16 | 1 |
  | 17 | 2 |
  | 18 | 2 |
  | 19 | 1 |
  | 20 | 1 |
  | 21 | 2 |
  | 22 | 0 |
  | 23 | 1 |
  | 24 | 3 |
  | 25 | 1 |
gcc | 25 | 38 |
| 1,52 |
| 1,23 |

SI |
LSC | 5,22 |
LC | 1,52 |
LIC | 0,00 |

Realizando unanálisis detallado a los resultados que se obtenidos para la primera estimación de los parámetros del proceso, se encontró que el límite inferior de control debe asumirse como cero, ya que sería absurdo monitorear un proceso con un límite inferior de control de -3,5 defectos. Una vez establecidos los parámetros para la primera estimación del proceso, se encontró que todas las muestras se encuentrandentro de los límites establecidos anteriormente, además no se presenta ningún patrón o tendencia dentro del comportamiento de las mismas, por lo cual se puede afirmar que el proceso se encuentra bajo control, con respecto al número de no conformidades. Una vez el proceso se encuentra bajo control, los parámetros estimados para el mismo, se pueden aproximar a los parámetros reales del proceso, loscuales permitirán monitorear el proceso en producciones futuras.

Carta NP
Para el desarrollo de esta parte del experimento, fue necesario recopilar datos para formar 20 subgrupos de tamaño variable. Con estos datos se procedió a inspeccionar los productos y verificar el número de conformidades por cada muestra. Con estos datos se procedió a diseñar una carta para el posterior análisis.
Los...