control de calidad

CONTROL DE CALIDAD:
PRÁCTICA 1: DIAGRAMA DE PARETO
Departamento Nº de defectos Coste defecto Coste total % Coste % Coste Acumulado
Cristales 10 50 500 4,83% 4,83%
Chapa 7 150 1050 10,14% 14,98%Pintura 15 100 1500 14,49% 29,47%
Mecánica 10 250 2500 24,15% 53,62%
Electricidad 15 200 3000 28,99% 82,61%
Repuestos 40 10 400 3,86% 86,47%
Administración 30 20 600 5,80% 92,27%
Dirección 2400 800 7,73% 100,00%
TOTAL 129 10350


PRÁCTICA 2: ÍNDICE DE CAPACIDAD, PROCESO CENTRADO
x ̅=∑_(i=1)^6▒x_i/6=(20+21+19+20+21+19)/6=20σ^*=√(((20-20)^2+(20-21)^2+(20-19)^2+(20-20)^2+(20-21)^2+(20-19)^2)/(6-1))=0,894
Límites 18 y 22
C_p=(LSE-LIE)/(6*σ)=(22-18)/(6*0.894)=0.745
El proceso No es capaz
Límites 17 y 23
C_p=(LSE-LIE)/(6*σ)=(23-17)/(6*0.894)=1.863
El proceso es capaz.PRÁCTICA 3: ÍNDICE DE CAPACIDAD, PROCESO DESCENTRADO
x ̅=∑_(i=1)^6▒x_i/6=(20+21+19+20+21+19)/6=20
σ^*=√(((20-20)^2+(20-21)^2+(20-19)^2+(20-20)^2+(20-21)^2+(20-19)^2)/(6-1))=0,894

Límites 19 y 23C_pl=(x ̅-LIE)/(3*σ)=(20-19)/(3*0.894)=0,373
C_pu=(LSE-x ̅)/(3*σ)=(23-20)/(3*0.894)=1.118
C_pk=0.373
El proceso No es capaz
Límites 17 y 24
C_pl=(x ̅-LIE)/(3*σ)=(20-17)/(3*0.894)=1.118C_pu=(LSE-x ̅)/(3*σ)=(24-20)/(3*0.894)=1.491
C_pk=0.373
El proceso es capaz.







PRACTICA 4:GRÁFICO DE CONTROL DE INDIVIDUOS.
Observación Diámetro
1 20
2 21
3 20
4 19
5 18
6 19
7 20
821
9 22
10 20

x ̅=∑_(i=1)^n▒x_i/n=(20+21+20+19+18+19+20+21+22+20)/10=20
σ^*=√(((20-20)^2+(21-20)^2+(20-20)^2+(19-20)^2+(18-20)^2+(19-20)^2+(20-20)^2+(21-20)^2+(22-20)^2+(20-20)^2)/(10-1))=1.154
UCL=x ̅+3*σ^*=23.46
LCL =x ̅-3*σ^*=16.54



PRÁCTICA 5: MEDIAS MÓVILES.
Observación MM 4 Observ
0
1
0
-1 0
0 0
1 0
0 0
-1 0













PRÁCTICA6: GRÁFICOS DE MEDIAS CON RECORRIDOS.
Muestra 1 2 3
5 1 5
4 2 4
5 3 5
6 2 6
5 2 5
Total 25 10 25
Media 5 2 5
Recorrido 2 2 2
Media Global 4
Recorrido Medio 2
UCL media...