Respuesta a la frecuencia

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Análisis de Respuesta en Frecuencia
Reporte Técnico 10

Peter E. Wellstead+ Marco Antonio Pérez Cisneros*
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Control Systems Principles Cheshire, UK

*División de Electrónica y Computación, CUCEI Universidad de Guadalajara, México

Solartron Instruments una división de Solartron Group Ltd Victoria Road, Farnborough

Solartron Victoria Road, Farnborough Hampshire GU14 7PW England Tel:+44 (0)1252 376666 Fax: +44 (0)1252 544981 Fax: +44 (0)1252 547384 (Transducers) Solartron Transducers 19408 Park Row, Suite 320 Houston, Texas, 77084 USA Tel: +1 281 398 7890 Fax: +1 281 398 7891 Solartron 964 Marcon Blvd, Suite 200 91882 MASSY, Cedex France Tel: +33 (0)1 69 53 63 53 Fax: +33 (0)1 60 13 37 06 Email: Web: solartron@solartron.com http://www.solartron.com

Solartron OverseasSales Ltd Instruments Division Block 5012 TECHplace II Ang Mo Kio Ave. 5, #04-11 Ang Mo Kio Industrial Park Singapore 2056 Republic of Singapore Tel: +65 482 3500 Fax: +65 482 4645 Solartron Beijing Liaison Office Room 327. Ya Mao Building No. 16 Bei Tu Chen Xi Road Beijing 100101, PR China Tel: +86 10 2381199 ext 2327 Fax: +86 10 2028617

Prefacio
La correlación del análisis de respuesta enfrecuencia (FRA, por sus siglas en inglés) es un sistema muy bien establecido en los métodos de identificación. La técnica ha sobrevivido muchas propuestas alternativas, simplemente porque es demasiado sencillo, flexible y robusto. Por ejemplo, el uso de métodos de respuesta en frecuencia para medir la respuesta de sistemas mientras, bajo control de lazo cerrado, ha sido establecido por muchos años,visto que las estimaciones de lazo cerrado usando otros métodos de identificación han tomado mucho más para alcanzar, e incluso ahora requiere conocimientos expertos para aplicarlos. Lo mismo es válido para sistemas no lineales y sistemas donde las señales de entrada o salida están a la deriva o alterado por ruido. Los métodos FRA distribuyen con emisiones habituales mientras que métodosalternativos necesitan especiales formas y conocimientos. Instrumentación para la correlación del análisis de respuesta en frecuencia fue inicializada por los fundadores de Solatron y la popularidad de la técnica es ampliamente usado debido a los desarrollos de los ingenieros de Solatron y la calidad y seriedad de sus diseñadores. Por esta razón ha sido un placer para mí escribir estas notas y habercolaborado con el investigador Solatron y el equipo de desarrollo. Peter Wellstead Control Systems Centre, Manchester, Septiembre, 1983.

Prefacio para el reporte actualizado
Despreciar el intenso esfuerzo sobre la parte de sistemas de identificación de los investigadores en décadas cercanas del siglo 20, los comentarios que hice en mi prefacio original queda enormemente cierto. Específicamente, lacorrelación del analizador de respuesta en frecuencia continúa para dominar sobre otros métodos en aplicaciones de identificación donde seguros y repetibles resultados son requeridos. Por esta razón la nueva edición de estas notas es, aparte de correcciones de errores de tipografía, casi inalterada de la primera.
Peter Wellstead, Marco Antonio Pérez Cisneros. Control Systems Principles, Cheshire,Reino Unido, Enero, 2003. www.control-systems-principles.co.uk

Análisis de Respuesta en Frecuencia
Peter E Wellstead DSc. C.Eng. FIEE 1. Introducción

El análisis de respuesta en frecuencia es la técinica donde una señal de prueba senoidal es usada para medir puntos sobre la respuesta de frecuancia de una función de transferencia o dunción de impedancia. El básico setup es mostrado en laFigura 1 en la cual una onda senoidal u(t) es aplicado para un sistema con la función de transferencia G(s). Después de que la oscilación momentanea desarrollada para condiciones iniciales ha decaído, la slaida y(t) viene a ser una onda senoidal pero con una magnitud diferente Y y fase relativa Φ. La magnitud y la fase de la salida y(t) están de hecho relacionadas con la función de transferencia...
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