Trabajo de metrologia

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TRABAJO DE V SEMESTRE
METROLOGIA
(CALCULO DE LA INCERTIDUMBRE EN PIE DE REY Y MICROMETRO)

PRESENTADO POR

GERARDO RONCALLO CASTRO
CARLOS LANDERO ANILLO
JHONATAN P ARRIETA BERTEL

DOCENTE

QUI. JORGE ARMANDO ARRIETA ARRIETA

UNIVERSIDAD TECNOLOGICO COMFENALCO
Facultad de ingenierías -Tecnologías en producción industrial
Cartagena de Indias D.T. y C.
08/DE JUNIO/2012INTRODUCCION

A través del siguiente trabajo desarrollaremos el cálculo de las incertidumbres tanto para el pie de rey como para el micrómetro, utilizaremos la guía técnica sobre trazabilidad e incertidumbre en metrología dimensional.

Por otro lado detallaremos los cálculos de incertidumbre y estableceremos el balance de los mismos.

CASO DE ESTUDIO 1 :

En el laboratorio XYZ acreditado por elONAC para la realización de calibración de instrumentos de medición dimensional, se llevó a cabo la calibración de un micrómetro de exteriores análogo con capacidad de medida de 0 mm a 25 mm y resolución de 0,01 mm (10 μm). Teniendo en cuenta que el laboratorio sigue el método establecido por el CENAM en el documento “guía técnica sobre trazabilidad e incertidumbre en metrología dimensional”, se leha pedido que establezca cuales pueden ser las principales fuentes de incertidumbre en esta calibración y con base en ello realizar el balance general de incertidumbre, hasta estimar la incertidumbre expandida con un factor de cobertura k = 2 (intervalo de confianza de aproximadamente 95 %).
Se cuenta con la siguiente información:

Reporte de mediciones de la calibración

Nominal | 2.5 |5.1 | 7.7 | 10.3 | 12.9 | 15 | 17.6 | 20.2 | 22.8 | 25 |
Lectura | | | | | | | | | | |
1 | 0.004 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.002 |
2 | 0.004 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.004 | 0.000 | 0.002 | 0.002 | 0.002 |
3 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.004 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 |
4 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.002 |0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 |
5 | 0.000 | 0.000 | 0.004 | 0.002 | 0.002 | 0.002 | 0.002 | 0.000 | 0.002 | 0.002 |
6 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.002 | 0.000 | 0.006 | 0.000 | 0.004 | 0.002 | 0.000 |
7 | 0.000 | 0.002 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.002 | 0.002 | 0.002 |
8 | 0.002 | 0.000 | 0.002 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.000 |
9 | 0.000 |0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.000 |
10 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.000 | 0.002 | 0.000 | 0.000 | 0.000 |
Media | 0.0012 | 0.0002 | 0.0014 | 0.0010 | 0.0004 | 0.0018 | 0.0010 | 0.0010 | 0.0010 | 0.0010 |
Desviación Estándar | 0.00169 | 0.00063 | 0.00135 | 0.00105 | 0.00084 | 0.00220 | 0.00105 | 0.00141 | 0.00105 | 0.00105 |

* La mediacorresponde al promedio de 10 lecturas. Las medidas están dadas en mm
La calibración se realizó con un juego de bloques marca Mitutoyo (47 piezas). Se trata de bloques ISO grado 0, para una longitud de 25mm donde se ha establecido ocurre la peor repetibilidad la tolerancia de grado es de 0,3 μm

Características dimensionales de micrómetro:
* DO Distancia máxima en paralelo a la escala en laque posiblemente el operador se aleje de la perpendicular a la escala (valor estimado en 4 cm).
* DF Distancia focal de observación (distancia de la escala del instrumento al ojo del operador, se estima en 25 cm).
* h Altura que separa los planos del tambor y del husillo (por norma es de 0,4 mm o menos).
* R desplazamiento del husillo por revolución del tambor (500 μm)
* El diámetrodel husillo (10 mm)

Recomendaciones: dado que la calibración se ha realizado cuidadosamente siguiendo al pie las indicaciones de la guía, se considera despreciable a la incertidumbre por efectos térmicos, por fuerza de medición y por falta de contacto de las puntas de medición

Solución
PRINCIPALES FUENTES DE INCERTIDUMBRE PARA EL MICROMETRO

* Incertidumbre debida a repetitibilidad...
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